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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0471359 (1999-12-23) |
우선권정보 | JP-0371203 (1998-12-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 130 인용 특허 : 28 |
Reliability of crystalline TFTs is improved in a large area integrated circuit typified by an active matrix type liquid crystal display device. In TFTs having an LDD structure, a region whose LDD region overlaps with a gate electrode and a region not overlapping with the gate electrode are fabricate
Reliability of crystalline TFTs is improved in a large area integrated circuit typified by an active matrix type liquid crystal display device. In TFTs having an LDD structure, a region whose LDD region overlaps with a gate electrode and a region not overlapping with the gate electrode are fabricate
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