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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0081001 (2002-02-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 12 |
A process for testing compaction of a swaged heater for an anode sub-assembly of a Hollow Cathode Assembly (HCA), in which a test sample is cleaned, its mass measured before and after immersion in kerosene for 24 hours, and a compaction percentage calculated. A swaged heater is rejected if the compa
1. A process for testing compaction of a swaged heater for an anode sub-assembly of a Hollow Cathode Assembly (HCA), said swaged heater having a tantalum center conductor, a magnesium oxide insulation layer surrounding said center conductor, and a tantalum sheath surrounding said magnesium oxide ins
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