검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
---|---|---|
() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) | G01N-011/00 G01N-021/25 G01M-003/20 |
미국특허분류(USC) | 073/054.04; 073/036; 356/414 |
출원번호 | US-0776109 (2001-02-01) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 34 인용 특허 : 50 |
The present invention is an apparatus and method for analyzing a fluid used in a machine or in an industrial process line. The apparatus has at least one meter placed proximate the machine or process line and in contact with the machine or process fluid for measuring at least one parameter related to the fluid. The at least one parameter is a standard laboratory analysis parameter. The at least one meter includes but is not limited to viscometer, element meter, optical meter, particulate meter, and combinations thereof.
The present invention is an apparatus and method for analyzing a fluid used in a machine or in an industrial process line. The apparatus has at least one meter placed proximate the machine or process line and in contact with the machine or process fluid for measuring at least one parameter related to the fluid. The at least one parameter is a standard laboratory analysis parameter. The at least one meter includes but is not limited to viscometer, element meter, optical meter, particulate meter, and combinations thereof. de of said female die. 4. An inc...