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Error correcting latch 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-003/037
출원번호 US-0107293 (2002-03-25)
발명자 / 주소
  • Gardner, Harry N.
출원인 / 주소
  • Aeroflex UTMC Microelectronic Systems, Inc.
대리인 / 주소
    Meza, Peter J.Kubida, William J.Hogan & Hartson LLP
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 7

초록

An error-correcting partial latch stage includes a first pass gate having an input for receiving a data input signal, an output, and a control node for receiving a control signal, a second pass gate having an input coupled to the output of the first pass gate, an output for providing a data output s

대표청구항

An error-correcting partial latch stage includes a first pass gate having an input for receiving a data input signal, an output, and a control node for receiving a control signal, a second pass gate having an input coupled to the output of the first pass gate, an output for providing a data output s

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Witt David B. ; Pflum Marty L., Conditional latching mechanism and pipelined microprocessor employing the same.
  2. Hollis Ernest E. (Bedford MA) Born Joseph H. (Boston MA), Dynamic flip-flop with static reset.
  3. Bob Grondalski ; Pranjal Srivastava ; James Vinh, High speed static latch.
  4. Freyman Ronald L. (Bethlehem PA), Latch circuit with reduced metastability.
  5. Ritesh Saraf, Low hold time statisized dynamic flip-flop.
  6. Kim Jae-Yoon,KRX, Multiplier to selectively perform unsigned magnitude multiplication or signed magnitude multiplication.
  7. Takabatake Akihiko (Itami JPX) Uramoto Shinichi (Itami JPX) Nakagawa Shinichi (Itami JPX), Phase clocked latch having both parallel and shunt connected switches for transmission gates.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Tanada, Yoshifumi, Circuit for inspecting semiconductor device and inspecting method.
  2. Tanada,Yoshifumi, Circuit for inspecting semiconductor device and inspecting method.
  3. Osada, Takeshi, Image display device and testing method of the same.
  4. Osada, Takeshi, Image display device and testing method of the same.
  5. Osada, Takeshi, Image display device and testing method of the same.
  6. Osada,Takeshi, Image display device and testing method of the same.
  7. Clerc, Sylvain; Gasiot, Gilles; Glorieux, Maximilien, Integrated circuit elementary cell with a low sensitivity to external disturbances.
  8. Gifford, David R.; Atkinson, Kevin E.; Jensen, James A., Memory circuit incorporating error detection and correction (EDAC), method of operation, and system.
  9. Morris, Wesley H.; Gifford, David R.; Lowther, Rex E., Memory circuit incorporating radiation-hardened memory scrub engine.
  10. Morris, Wesley H.; Gifford, David R.; Lowther, Rex E., Memory circuit incorporating radiation-hardened memory scrub engine.
  11. Masleid, Robert Paul, Power efficient multiplexer.
  12. Masleid, Robert Paul, Power efficient multiplexer.
  13. Masleid, Robert Paul, Power efficient multiplexer.
  14. Masleid, Robert Paul, Power efficient multiplexer.
  15. Belov,Vladimir, Radiation hardened latch.
  16. Von Thun,Matthew, Radiation hardened logic circuit.
  17. Ishimaru,Kazunari, Semiconductor integrated circuit.
  18. Wen, Charles Hung-Pin; Chang, Chun-Wei, Soft error protection device.
  19. Naffziger,Samuel D., Soft-error rate improvement in a latch using low-pass filtering.
  20. Nozawa, Ryo, Test circuit and display device having the same.
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