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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0743585 (2001-01-11) |
우선권정보 | DE-0031340 (1998-07-13) |
국제출원번호 | PCT/DE99/01914 (1999-07-01) |
국제공개번호 | WO00/03833 (2000-01-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 6 |
A method and arrangement for calibrating a laser processing machine for processing workpieces. The present invention ensures a fast and reproducible method and arrangement for calibrating a laser processing machine by measuring a position of a predetermined test pattern on a test plate while taking
A method and arrangement for calibrating a laser processing machine for processing workpieces. The present invention ensures a fast and reproducible method and arrangement for calibrating a laser processing machine by measuring a position of a predetermined test pattern on a test plate while taking
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