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특허 상세정보

Millimeter wave and far-infrared detector

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) H01L-029/06   
미국특허분류(USC) 257/029; 257/014; 257/021; 257/024; 257/187; 257/192; 257/194; 257/195; 257/452; 257/457; 257/465
출원번호 US-0763603 (2001-02-26)
우선권정보 JP-0334196 (1999-11-25); JP-0228037 (1999-08-11); JP-0202261 (1999-07-15)
국제출원번호 PCT/JP00/04540 (2000-07-07)
국제공개번호 WO01/06572 (2001-01-25)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Armstrong, Westerman & Hattori, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 34  인용 특허 : 5
초록

An MR/FIR light detector is disclosed herein that has extraordinarily high degree of sensitivity and a high speed of response. The detector includes an MR/FIR light introducing section (1) for guiding an incident MR/FIR light (2), a semiconductor substrate (14) formed with a single-electron transistor (14) for controlling electric current passing through a semiconductor quantum dot (12) formed therein, and a BOTAI antenna (6, 6a, 6b, 6c) for concentrating the MW/FIR light (2) into a small special zone of sub-micron size occupied by the semiconductor quan...

대표
청구항

An MR/FIR light detector is disclosed herein that has extraordinarily high degree of sensitivity and a high speed of response. The detector includes an MR/FIR light introducing section (1) for guiding an incident MR/FIR light (2), a semiconductor substrate (14) formed with a single-electron transistor (14) for controlling electric current passing through a semiconductor quantum dot (12) formed therein, and a BOTAI antenna (6, 6a, 6b, 6c) for concentrating the MW/FIR light (2) into a small special zone of sub-micron size occupied by the semiconductor quan...

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 34

  1. Banine, Vadim Yevgenyevich; Bakker, Levinus Pieter; Moors, Johannes Hubertus Josephina; Stevens, Lucas Henricus Johannes; Sidelnikov, Yurii Victorvitch; Dierichs, Marcel Mathijs Theodore Marie; Ravensbergen, Marius. Assembly for detection of radiation flux and contamination of an optical component, lithographic apparatus including such an assembly and device manufacturing method. USP2010097800079.
  2. Ahn, Doyeol. Compound semiconductors. USP2013038395141.
  3. Ahn, Doyeol. Compound semiconductors. USP2014068748862.
  4. Ahn, Doyeol. Copper blend I-VII compound semiconductor light-emitting devices. USP2013098524517.
  5. Safai, Morteza; Georgeson, Gary E.. Corrosion detection and monitoring system. USP2012058185326.
  6. Monfray, St?phane; Dutartre, Didier; Boeuf, Fr?d?ric. Emission process for a single photon, corresponding semiconducting device and manufacturing process. USP2005026852993.
  7. Nishizawa, Seizi; Iwamoto, Toshiyuki. Infrared light emitting device, infrared light detecting device, time-domain pulsed spectrometer apparatus, and infrared light emitting method. USP2009117615749.
  8. Komiyama, Susumu; An, Zhenghua; Cheng, Jeng-Chung. Infrared photodetector. USP2010047705306.
  9. Ahn, Doyeol. Light-electricity conversion device. USP2013028367925.
  10. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Multi-stage waveform detector. USP2009107601967.
  11. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Multi-stage waveform detector. USP2010017649180.
  12. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Multi-stage waveform detector. USP2010037679066.
  13. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T; Wood, Jr., Lowell L.. Multi-stage waveform detector. USP2010057718975.
  14. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Multi-stage waveform detector. USP2011098022370.
  15. Park, Yoon-dong; Miller, David Andrew Barclay; Jin, Young-gu; Joe, In-sung. Near-infrared photodetectors, image sensors employing the same, and methods of manufacturing the same. USP2012068193497.
  16. Stapelbroek,Maryn G.; Hogue,Henry H.; D'Souza,Arvind I.. Near-infrared visible light photon counter. USP2007047202511.
  17. Ahn, Doyeol. Photodetector capable of detecting long wavelength radiation. USP2016079397249.
  18. Ahn, Doyeol. Photodetector capable of detecting long wavelength radiation. USP2014088809834.
  19. Ahn, Doyeol. Photodetector capable of detecting the visible light spectrum. USP2014088802481.
  20. Ahn, Doyeol. Photodetector capable of detecting the visible light spectrum. USP2012078227793.
  21. Ahn, Doyeol. Photodetectors. USP2013028373153.
  22. Zhong, Zhaohui; Norris, Theodore B.; Liu, Chang-Hua; Chang, You-Chia. Photodetectors based on double layer heterostructures. USP2017069680038.
  23. Ahn, Doyeol. Polariton mode optical switch with composite structure. USP2013028368990.
  24. Ahn, Doyeol. Polariton mode optical switch with composite structure. USP2014038681411.
  25. Safai, Morteza. Quantum dot detection. USP2015018929411.
  26. Safai, Morteza. Quantum dot detection. USP2013118588262.
  27. Ahn, Doyeol. Semiconductor device. USP2013028368047.
  28. Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Variable metamaterial apparatus. USP2012068207907.
  29. Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Variable metamaterial apparatus. USP2012018106851.
  30. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Variable multi-stage waveform detector. USP2010017649181.
  31. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Variable multi-stage waveform detector. USP2010017649182.
  32. Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Myhrvold, Nathan P.; Tegreene, Clarence T.; Wood, Jr., Lowell L.. Variable multi-stage waveform detector. USP2013108558189.
  33. Safai, Morteza. X-ray inspection tool. USP2013088503610.
  34. Safai, Morteza. X-ray inspection tool. USP2013038396187.