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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0012232 (2001-12-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 3 |
In a device and a method for the analysis of atomic and molecular elements by way of wavelength dispersive x-ray spectrometric structures including at least one mirror or focussing device having a multi-layer structure onto which fluorescent radiation generated by primary x-ray or electrons beams fr
1. A device for the analysis of atomic and molecular elements by way of wavelength dispersive, x-ray spectrometric structures, comprising at least one mirror or focussing device including a multi-layer structure, onto which fluorescence radiation generated by primary x-rays or electron beams from a
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