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Substrate processing method and apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-007/00
출원번호 US-0956820 (2001-09-21)
우선권정보 JP-0290020 (2000-09-25)
발명자 / 주소
  • Osaka, Akihiro
  • Murobayashi, Masaki
  • Matsunaga, Tatsuhisa
  • Noto, Kouichi
출원인 / 주소
  • Hitachi Kokusai Electric Inc.
대리인 / 주소
    Oliff & Berridge, PLC
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 5

초록

Substrate positioning and substrate transporting are processed in parallel, thereby reducing substrate transfer apparatus wait time and improving substrate processing throughput. A substrate transfer apparatus 1 is configured in a single unit, a plural number of wafers W prior to notch alignment is

대표청구항

Substrate positioning and substrate transporting are processed in parallel, thereby reducing substrate transfer apparatus wait time and improving substrate processing throughput. A substrate transfer apparatus 1 is configured in a single unit, a plural number of wafers W prior to notch alignment is

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Prentakis Antonios E. (Cambridge MA), Apparatus and method for loading and unloading wafers.
  2. Miyashita Masahiro,JPX, Positioning apparatus for substrates to be processed.
  3. Kaneko Satoshi,JPX ; Yamasaki Katuki,JPX, Positioning device and positioning method.
  4. Ishii Katsumi,JPX, Processing unit for substrate manufacture.
  5. Akihiro Osaka JP; Hiroshi Sekiyama JP; Kouichi Noto JP; Masaki Sugawara JP, Semiconductor manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Adhikari, Diwaskar; Goss, Raymond G.; Maxim, Carmen A.; Rothe, Jan, Method and apparatus for routing wafer pods to allow parallel processing.
  2. Elliott, Martin R.; Shah, Vinay, Methods and apparatus for mapping carrier contents.
  3. Goto, Hirohiko, Substrate angle alignment device, substrate angle alignment method, and substrate transfer method.
  4. Fukushima, Takayuki, Substrate position alignment device and control method of substrate position alignment device.
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