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Method and algorithm for image processing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06K-009/36
출원번호 US-0389715 (1999-09-03)
발명자 / 주소
  • He, George G.
  • Moon, Brain D.
출원인 / 주소
  • Battelle Memorial Institute
대리인 / 주소
    Woodard, Emhardt, Moriarty, McNett & Henry, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 7

초록

The present invention is a modified Radon transform. It is similar to the traditional Radon transform for the extraction of line parameters and similar to traditional slant stack for the intensity summation of pixels away from a given pixel, for example ray paths that spans 360 degree at a given gri

대표청구항

1. A method of image processing, comprising the steps of: (a) obtaining image data as a plurality of pixels, each of the plurality of pixels having at least two indices, and having an assigned value, wherein said assigned value corresponds to a texture; (b) for said each pixel, calculating a plu

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Flickner Myron D. (San Jose CA) Hinkle Eric B. (Atlanta GA) Sanz Jorge L. C. (San Jose CA), Apparatus and method for computing the radon transform of digital images.
  2. Tam Kwok C. (Schenectady NY), Limited-angle imaging using multiple energy scanning.
  3. Nishio Kazutaka (Moriguchi JPX) Nishimura Kenji (Sakai JPX) Naka Toshiya (Osaka JPX) Nakase Yoshimori (Kawachinagano JPX), Method and apparatus for compensating for color in color images.
  4. Delageniere Solange (Grenoble FRX) Grangeat Pierre (Saint Ismier FRX), Method for reconstructing three-dimensional images of a changing object.
  5. Winney Randy A. (Garland TX), Method of avoiding aliasing in slant stacking of seismic data.
  6. Cabral Brian K. ; Foran James, System and method of performing tomographic reconstruction and volume rendering using texture mapping.
  7. Meckley John R. (Voorhees Township ; Camden County NJ), Systolic radon transform processor.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Chen, Haiguang; Kirk, Michael D.; Biellak, Stephen; Sinha, Jaydeep, Detection of selected defects in relatively noisy inspection data.
  2. Taguchi, Jun'ichi; Ikeda, Mitsuji; Abe, Yuichi; Kitazawa, Masahiro, Device and method for detecting angle of rotation from normal position of image.
  3. Compton, John T.; Hamilton, Jr., John F., Image sensor with improved light sensitivity.
  4. Compton, John T.; Hamilton, Jr., John F., Image sensor with improved light sensitivity.
  5. Compton, John T.; Hamilton, Jr., John F.; DeWeese, Thomas E., Image sensor with improved light sensitivity.
  6. Terrazas, Alejandro; Himmelfarb, Michael; Miller, David; Donato, Paul, Methods and apparatus to estimate demography based on aerial images.
  7. Terrazas, Alejandro; Himmelfarb, Michael; Miller, David; Donato, Paul, Methods and apparatus to estimate demography based on aerial images.
  8. Wu, Sean; Chen, Haiguang; Kirk, Michael D., Methods and systems for detection of selected defects particularly in relatively noisy inspection data.
  9. Wu,Sean; Chen,Haiguang; Kirk,Michael D., Methods and systems for detection of selected defects particularly in relatively noisy inspection data.
  10. Miller, David; Bedynski, Pawel Mikolaj; Mazumdar, Mainak; Daemen, Ludo, Methods, apparatus, and articles of manufacture to measure geographical features using an image of a geographical location.
  11. Miller, David; Bedynski, Pawel Mikolaj; Mazumdar, Mainak; Daemen, Ludo, Methods, apparatus, and articles of manufacture to measure geographical features using an image of a geographical location.
  12. Terrazas, Alejandro; Himmelfarb, Michael, Methods, apparatus, and articles of manufacture to measure geographical features using an image of a geographical location.
  13. Hamilton, Jr., John F.; Compton, John T., Processing color and panchromatic pixels.
  14. Hamilton, Jr., John F.; Compton, John T., Processing color and panchromatic pixels.
  15. Enge, Amy D.; Compton, John T.; Pillman, Bruce H., Providing multiple video signals from single sensor.
  16. Enge, Amy D.; Compton, John T.; Pillman, Bruce H., Providing multiple video signals from single sensor.
  17. Huang, Junqing; Jin, Huan; Chen, Grace Hsiu-Ling; Gao, Lisheng, Scratch filter for wafer inspection.
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