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Method and apparatus for inspecting blow molded containers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01D-005/36
출원번호 US-0533465 (2000-03-23)
발명자 / 주소
  • Stork, Wilmer D.
  • McGauley, Franklin C.
출원인 / 주소
  • Plastipak Packaging, Inc.
대리인 / 주소
    Brooks Kushman P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 15

초록

A method and apparatus (16) for inspecting the thickness of conveyed blow molded containers (18) utilizes a laser source (22) for directing a laser beam (24) upwardly from the exterior of the conveyed containers toward the container bottoms so as to be reflected downwardly at both outer and inner su

대표청구항

1. A method for inspecting blow molded containers, comprising: conveying on a rotary wheel newly blown molded containers with the containers positioned upright such that bottoms thereof face downwardly and are rotatively oriented; directing a laser beam upwardly from the exterior of the conveyed

이 특허에 인용된 특허 (15)

  1. Baldwin Leo B. (Horseheads NY), Apparatus for detecting defects on the bottom of bottles by manipulating an image to remove knurls.
  2. Gooch Jan W. (Atlanta GA) Larsen James W. (Douglasville GA), Bottle stress analysis system.
  3. Gast Terry L. ; Waugaman John L. ; Nicks Tim ; Goff ; Jr. Sherwood L. ; Rosenquest David R. ; Gast Ronald E., In-line inspection of containers.
  4. Kohler Timothy A. (Maumee OH) Ringlien James A. (Maumee OH), Inspection of translucent containers.
  5. Juvinall John W. (Ottawa Lake MI) Kistler Steven D. (Toledo OH) Ringlien James A. (Maumee OH), Measurement of transparent container wall thickness.
  6. Rudd Eric P. (Hopkins MN) Skunes Timothy A. (Mahtomedi MN), Method and apparatus for exposure control in light-based measurement instruments.
  7. Rudd Eric P. (Hopkins MN) Skunes Timothy A. (Mahtomedi MN), Method and apparatus for exposure control in light-based measurement instruments.
  8. Southwell William H. (Yorba Linda CA), Method and apparatus for measuring wall thickness and concentricity of tubular glass articles.
  9. Zhang Jingwei (Antony FRX) Grente Pascal (Courbevoie FRX), Method of measuring the thickness of a transparent material.
  10. Shih I-Fu (Los Alamitos CA) Chang David B. (Tustin CA) Vali Victor (Laguna Hills CA), Noncontact, on-line determination of phosphate layer thickness and composition of a phosphate coated surface.
  11. Young William C. (Superior Township ; Washtenaw County MI) Darr Richard C. (Seville OH), Plastic blow molded freestanding container.
  12. Imre Dobi (Oroshza HUX) Karablyos Pter (Budapest HUX) Kugyela Jnos (Oroshza HUX) Tth Bla (Oroshza HUX), Process and apparatus for the integral optical examinations of damaging mechanical stresses in the bottom-part of bottle.
  13. Burri Karl-Georg (Oberrieden CHX) Gysi Peter (Bellikon CHX), Process and arrangement for the inspection of translucent articles.
  14. Gagnon Robert E. (St. John\s CAX), Speckle interference method for remote thickness measurement of a sheet and layer and an apparatus therefor.
  15. Bone James W. (Indian Rocks FL) Douglas Robert J. (Palm Harbor FL) Kosta Bozidar (Clearwater FL), System and method for determining pushup of a molded glass container.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Juvinall,John W.; Ringlien,James A.; Graff,Stephen M.; Chen,Jie; Anderson,William H., Optical inspection apparatus and method for inspecting container lean.
  2. Safai, Morteza, Systems and methods for detecting contaminants using laser beam path length differences.
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