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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G01N-031/00 |
미국특허분류(USC) | 436/003; 436/001; 436/164; 116/004; 073/040.7; 073/040 |
출원번호 | US-0800399 (2001-03-05) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 1 |
This invention discloses a method for detecting a leak from a sealed optical device. The method includes steps of: A) injecting a target gas with no performance interference to the sealed optical device for leak detection followed by sealing the sealed optical device. B) placing the sealed device in a leak testing chamber and measuring a background level of the target gas in the leak testing chamber. C) heating the sealed device to a gas-expelling temperature for expelling the target gas from the leak in the sealed optical device. And, D) detecting the t...
This invention discloses a method for detecting a leak from a sealed optical device. The method includes steps of: A) injecting a target gas with no performance interference to the sealed optical device for leak detection followed by sealing the sealed optical device. B) placing the sealed device in a leak testing chamber and measuring a background level of the target gas in the leak testing chamber. C) heating the sealed device to a gas-expelling temperature for expelling the target gas from the leak in the sealed optical device. And, D) detecting the t...