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System and method for determining the effectiveness of production installations, fault events and the causes of faults 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05B-013/02
  • G06F-011/30
출원번호 US-0209383 (2002-07-29)
발명자 / 주소
  • Kallela, Jari
  • Vollmar, Gerhard
  • Greulich, Manuel
  • Milanovic, Raiko
출원인 / 주소
  • ABB Research Ltd.
대리인 / 주소
    Greenberg Laurence A.
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 8

초록

A method and a system are described for determining the effectiveness of production installations, significant fault events that bring about deviations from a desired effectiveness and the causes of fault events. The production installation is connected to a data acquisition device, which is set up

대표청구항

1. A system for determining an effectiveness of production installations of various types, significant fault events which bring about deviations from a prescribed desired effectiveness, and causes of the significant fault events, the system comprising:a data acquisition device to be connected to a r

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Keeler James D. ; Hartman Eric J. ; Godbole Devendra B. ; Piche Steve ; Arbila Laura ; Ellinger Joshua ; Ferguson ; II R. Bruce ; Krauskop John ; Kempf Jill L. ; O'Hara Steven A. ; Strauss Audrey ; T, Automated method for building a model.
  2. Paradies David (Los Osos CA) Tse Edison (Los Altos CA) Leo Gary M. (Fairfax CA), Expert control system for real time management of automated factory equipment.
  3. Barrett, Russell A.; Fischer, Jon J.; Garrett, Kenneth E.; Gayle, David M.; Holdeman, Timothy L.; Jundt, Darrell C.; Kitt, Brian R.; Ruebke, Donald D.; Russell, Brett E.; Stewart, Kenneth C.; Welch, , Method and system for providing feedback from a non-destructive inspection of a composite part.
  4. McCown Patricia M. (Cresskill NJ) Conway Timothy J. (Highland Park NJ) Jessen Karl M. (Bayonne NJ), Methods and apparatus for monitoring system performance.
  5. Wu Wen Feng,TWX ; Hsieh Ming-Hsiu,TWX ; Chen Pai-Lan,TWX ; Chen Ching-Ren,TWX ; Liu Hui-Ping,TWX, Overall equipment effectiveness on-line categories system and method.
  6. Wang Qingsu ; Christian Craig William ; Crowley John B. ; Dolman Denver L., System and method for calculating cluster tool performance metrics using a weighted configuration matrix.
  7. Wang Qingsu ; Barnett Gerald ; Greig R. Michael ; Cheng Yi, System and method for performing real time data acquisition, process modeling and fault detection of wafer fabrication p.
  8. Deborah L. Caswell ; Srinivas Ramanathan ; James D. Hunter ; Scott S. Neal ; Frederick A. Sieker ; Mark D. Smith, Template-driven approach for generating models on network services.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Nguyen, Anh T.; Emigholz, Kenneth F.; Woo, Stephen S.; Vercher, Stephen D.; Orsak, Steven M.; Alagappan, Perry, Application of abnormal event detection (AED) technology to polymers.
  2. Alagappan, Perry; Emigholz, Kenneth F.; Worden, Kevin R.; Woo, Stephen S.; Nguyen, Anh T., Application of abnormal event detection technology to delayed coking unit.
  3. Emigholz, Kenneth F.; Dash, Sourabh K.; Woo, Stephen S., Application of abnormal event detection technology to fluidized catalytic cracking unit.
  4. Emigholz, Kenneth F.; Kendi, Thomas A.; Woo, Stephen S., Application of abnormal event detection technology to hydrocracking units.
  5. Emigholz,Kenneth F.; McLain,Richard B.; Wang,Robert K.; Woo,Stephen S., Application of abnormal event detection technology to olefins recovery trains.
  6. Ko, Byung-Su; Vaidhyanathan, Ramesh; Richter, Jeffrey; O'Connor, Thomas F., Integrated expert system for identifying abnormal events in an industrial plant.
  7. Kesler, Joseph M.; Liggett, Uriah M.; Roth, II, Richard A.; Sharp, Thomas D., Managing non-destructive evaluation data.
  8. Kesler, Joseph M.; Liggett, Uriah M.; Roth, II, Richard A.; Sharp, Thomas D., Managing non-destructive evaluation data.
  9. Sharp, Thomas D.; Roth, II, Richard A.; Liggett, Uriah M.; Kesler, Joseph M., Managing non-destructive evaluation data.
  10. Sharp, Thomas D.; Roth, II, Richard A.; Liggett, Uriah M.; Kesler, Joseph M., Managing non-destructive evaluation data.
  11. Kesler, Joseph M.; Sharp, Thomas D.; Liggett, Uriah M.; Bahr, Brian; Hodapp, Chris M.; Coyan, Gary E., Manufacture modeling and monitoring.
  12. Kolandavelu, Raghupathy; Felke, Tim; Kesavan, MoghanaPriya; K, Ramchandra Reddy; Mahoney, Tim, Methods and apparatus for the creation and use of reusable fault model components in fault modeling and complex system prognostics.
  13. Emigholz,Kenneth F.; Wang,Robert K.; Woo,Stephen S.; McLain,Richard B.; Dash,Sourabh K.; Kendi,Thomas A., System and method for abnormal event detection in the operation of continuous industrial processes.
  14. Kim,Kyusung; Mylaraswamy,Dinkar; Sturm,Doug, System and method for turbine engine fault detection using discrete event system modeling.
  15. Greulich, Manuel; Vollmar, Gerhard, System for determining fault causes.
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