최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0114637 (2002-04-02) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 319 |
Scan distributor, collector, and controller circuitry connect to the functional inputs and outputs of core circuitry on integrated circuits to provide testing through those functional inputs and outputs. Multiplexer and demultiplexer circuits select between the scan circuitry and the functional inpu
1. A process of testing an integrated circuit comprising:A. configuring a functional circuit into a test mode;B. capturing one response data bit output from each of plural scan paths, associated with the functional circuit, into a scan collector;C. simultaneously loading stimulus data bits into a sc
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.