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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0803599 (2001-03-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 331 |
Scan architectures are commonly used to test digital circuitry in integrated circuits. The present invention describes a method of adapting conventional scan architectures into a low power scan architecture. The low power scan architecture maintains the test time of conventional scan architectures,
1. A scan circuit comprising:A. a functional circuit formed on the semiconductor substrate of an integrated circuit, the functional circuit including logic circuits to be tested;B. a scan path circuit formed of serially connected scan cells, the scan path circuit having leads connected to the logic
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