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Fiducial calibration systems and methods for manufacturing, inspection, and assembly 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B23Q-017/00
출원번호 US-0007051 (2001-12-06)
발명자 / 주소
  • Miller, Jimmie Andrew
출원인 / 주소
  • University of North Carolina at Charlotte
대리인 / 주소
    Kilpatrick Stockton LLP
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 24

초록

Fiducial calibration systems and methods for precisely and accurately manufacturing a part from a workpiece, inspecting or measuring a part, and/or assembling a plurality of manufactured parts including providing a workpiece, wherein the workpiece and the associated processes are subject to environm

대표청구항

1. A fiducial calibration method for precisely and accurately manufacturing a part from a workpiece, the method comprising:providing a workpiece;disposing a plurality of datums relative to the workpiece;calibrating the separation distance between each of the plurality of datums to workpiece distance

이 특허에 인용된 특허 (24)

  1. Brandstetter Robert W. ; Fonneland Nils J., Angular alignment of structures using moire patterns.
  2. Prentakis Antonios E. (Cambridge MA), Apparatus and method for loading and unloading wafers.
  3. Pryor Timothy R.,CAX, Apparatus for determining dimensions.
  4. Parnum John D. (Peterborough GB2) Barber Nigel T. (Rugby GB2), Cam machine with acceleration control.
  5. Ito Koichi,JPX ; Masamoto Kazunori,JPX ; Yamashita Hiroshi,JPX ; Nakagawa Hideo,JPX ; Kumagai Mikito,JPX, Dynamic error correcting system in a numerically controlled machine tool.
  6. Feldman Michael R. ; Kathman Alan D. ; Welch William Hudson, Integrated micro-optical systems.
  7. Ziegert John C. (2335 Laurel La. Palm Beach Gardens FL 33410) Mize Christopher D. (106 First Ct. Palm Beach Gardens FL 33410), Measurement instrument with interferometer and method.
  8. Sheridan, Richard; Wang, Xue-Feng, Method and apparatus for accessing a site on a biological substrate.
  9. Pryor Timothy R.,CAX, Method and apparatus for determining dimensions.
  10. Gardopee George J. (Southbury CT) Clapis Paul J. (Sandy Hook CT) Prusak Joseph P. (Danbury CT) Poultney Sherman K. (Ridgefield CT), Method for co-registering semiconductor wafers undergoing work in one or more blind process modules.
  11. Senda Harumitsu,JPX, Method for compensating a component of a machine tool for displacement caused by heat.
  12. Senda Harumitsu,JPX, Method for estimating heat-included displacment in a machine tool.
  13. Seemann Henry R. (2420 N. 202 Pl. Seattle WA 98133), Method for non-destructive inspection of an aircraft.
  14. Greenwood Thomas A. ; Pastusak Thomas W., Method for product acceptance by improving the accuracy of machines.
  15. Umatate Toshikazu (Kawasaki JPX) Suzuki Hiroyuki (Tokyo JPX), Method for successive alignment of chip patterns on a substrate.
  16. Lepejian David Yepejian, Method for using wafer navigation to reduce testing times of integrated circuit wafers.
  17. Umatate Toshikazu (Kawasaki JPX), Method of and apparatus for aligning a substrate.
  18. Iwamoto Yoshichika (Kumagaya JPX) Tateno Hiroki (Kawasaki JPX) Magome Nobutaka (Kawasaki JPX) Okamoto Hiroki (Kawasaki JPX), Positioning method and apparatus.
  19. Greenwood Thomas A. ; Pastusak Thomas W., Real-time orientation of machine media to improve machine accuracy.
  20. Seemann Henry R. (2420 N. 202 Pl. Seattle WA 98133), Robotic apparatus.
  21. Greenwood Thomas A. ; Pastusak Thomas W., Scaling machine media for thermal effects to improve machine accuracy.
  22. Aiso Katsuyoshi,JPX ; Goto Takeshi,JPX ; Suzuki Kenichi,JPX ; Sasaki Tadashi,JPX, Thermal displacement correcting apparatus for machine tool.
  23. Snyder Edward J. (Trumbull CT) Barbetti Jamie L. (Milford CT), Two-dimensional position coordinate determination device with U-shaped delay line.
  24. Smith William V. (Tustin CA), Work table orientation apparatus and method.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. McAdoo, David L.; McAdoo, Timothy K., Apparatus for pre-plating truss members.
  2. Miller,Jimmie Andrew, Fiducial calibration method and system for assembling parts.
  3. Miller,Jimmie Andrew, Fiducial calibration method for measuring a workpiece.
  4. Smith, Kevin Scott, Manufacture of large parts on small machines.
  5. Han, Chang-Ho; Kim, Dae-Wook; Lee, Jin-Young; Choi, Sung-Won; Kim, Byoung-Hoon; Park, Han-Hum; Choi, Sang-Jin; Ku, Ja-Hum, Method of calibrating target values and processing systems configured to calibrate the target values.
  6. Morris, Mark C.; Smoke, Jason C.; Weidner, William J.; Wilson, Craig A.; Mayer, Edward J., Method to modify an airfoil internal cooling circuit.
  7. Crowley, Matthew Wagner; Henderson, Nathaniel H.; Hunt, Christopher A.; Theobald, Matthew S., Methods for manufacturing parts in CNC machines.
  8. Slettemoen, Gudmunn, Opto-mechanical postion finder.
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