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Inspection device for radar absorbing materials

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01S-013/00
  • G01S-013/08
  • G01S-013/88
출원번호 US-0617464 (2003-07-11)
발명자 / 주소
  • Tam, Kent K.
출원인 / 주소
  • Northrop Grumman Corporation
대리인 / 주소
    Dachs Louis L.
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 5

초록

The invention is a device for inspecting an assembly including a surface coating containing magnetic radar-absorbing materials on a conductive surface. In detail, the device includes a first system for transmitting an electromagnetic signal to the assembly, which includes a first waveguide made of a

대표청구항

1. A device for inspecting an assembly including a surface coating containing magnetic radar absorbing materials on a conductive surface, the device comprising:first and second hollow conductive waveguides having open first ends and closed off second ends, said first waveguide adapted to direct elec

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Zoughi Reza (Fort Collins CO) Ganchev Stoyan I. (Fort Collins CO), Calibrated microwave dielectric coating thickness gauge.
  2. Gaunaurd Guillermo C. (Rockville MD) berall Herbert (Washington DC), Method of determining the material composition of a dielectrically coated radar target/obstacle.
  3. Munro John R. (Simi Valley CA) Jost William R. (Simi Valley CA) Ash ; Jr. Francis M. (Burbank CA), Radar absorption material thickness testing device.
  4. Darling ; Jr. Phillip H. (Buena Park CA), System for measuring electromagnetic properties.
  5. Barr Thomas A. (Huntsville AL), Thickness measurement system.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Neama, Roger; London, Brian; Breen, Larry R.; Cuva, Rocco S.; Buttermore, Alun L., Engine signature assessment system.
  2. Sugiura, Toshihiro; Takeda, Masamune; Takahashi, Junichi, Interference exclusion capability testing apparatus.
  3. Esher, Justin; Gamroth, Nicholas; Dean, James; Derov, John S., Near field free space anisotropic materials characterization.
  4. Scow, Robert A.; Daws, David E., Positioning device for RAM testing system.
  5. Tam,Kent K., Process for determining the resistivity of a resistive layer.
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