$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Contactor for testing semiconductor device and manufacturing method thereof

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0059114 (2002-01-31)
우선권정보 JP-0027399 (2001-02-02)
발명자 / 주소
  • Maruyama, Shigeyuki
  • Tashiro, Kazuhiro
  • Watanabe, Naoyuki
  • Koizumi, Daisuke
  • Hashitani, Takafumi
  • Yano, Ei
출원인 / 주소
  • Fujitsu Limited
대리인 / 주소
    Armstrong, Kratz, Quintos, Hanson & Brooks, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 4

초록

A contactor has contact electrodes elastically deformable in a direction of thickness of the contactor so that the contactor can make a contact with a semiconductor device with an appropriate contact pressure. The contactor is positioned between the semiconductor device and a test board so as to ele

대표청구항

1. A contactor configured to be arranged between a semiconductor device and a test board so as to electrically connect the semiconductor device to the test board, the contactor comprising:a plurality of contact electrodes each having a first contact electrode part, a second contact electrode part an

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Lightbody James D. (32600 Fairmount Blvd. Pepper Pike OH 44124) Lightbody William S. (32600 Fairmount Blvd. Pepper Pike OH 44124), Apparatus and method for testing circuit boards.
  2. Byrnes Herbert P. (Poughkeepsie NY) Wahl Richard (Fishkill NY), Contact probe assembly having rotatable contacting probe elements.
  3. Lopergolo Emanuele Frank ; Goldmann Lewis Sigmund ; Sullivan Joseph Michael ; Tompkins ; Jr. Charles Russell, High density electrical interconnect apparatus and method.
  4. Okubo Masao,JPX ; Okubo Kazumasa,JPX ; Iwata Hiroshi,JPX, Probe for testing a semiconductor integrated circuit.

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Machida, Kazumichi; Urata, Atsuo; Konno, Takeshi; Ishida, Akira; Egashira, Mitsuru; Kobayashi, Mikihiko, Bimetallic probe with tip end.
  2. Campbell, Julie A.; Rayzman, Lenny; Sutono, Albert, Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes.
  3. Campbell, Julie A., Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes.
  4. Henry, David; Zhou, Jiachun; Prabakaran, Kanapathipillai; Ji, Yingdong, Electrical connector with embedded shell layer.
  5. Kojima, Kesao; Ichikawa, Yutaka, Manufacturing method for contact for current inspection jig, contact for current inspection jig manufactured using said method, and current inspection jig provided with said contact.
  6. Huebner,Michael, Method of making contact with circuit units to be tested in a tester and contact-making apparatus for implementing the method.
  7. Miyazaki, Hiroshi, Multiple contact test probe.
  8. Fliegner, Jens; Ebert, Andreas, Operating device for a motor vehicle.
  9. Campbell, Julie A., Probing blade conductive connector for use with an electrical test probe.
  10. Campbell, Julie A., Probing blade with conductive connector for use with an electrical test probe.
  11. Patterson, Joseph Martin, Socketless integrated circuit contact connector.
  12. Chen, Chen-Jung, Twist contact for electrical connector.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트