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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0623493 (1999-03-15) |
우선권정보 | DE-0011332 (1998-03-16) |
국제출원번호 | PCT/EP99/01691 (1999-03-15) |
국제공개번호 | WO99/48056 (1999-09-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 7 |
A method and an apparatus for testing a biometric feature wherein a set value of the biometric feature is stored in a data carrier in the form of one or more data records. For testing the biometric feature, measured values representing an instantaneous value of the biometric feature are first determ
1. A method for testing a biometric feature comprising the steps of:determining measured values representing an instantaneous value of the biometric feature and making said measured values available in a terminal;transmitting from a data carrier to the terminal at least a subset of first reference v
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