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Methods of generating information about materials present in compositions and about particulates present in fluids utilizing a microscope 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-031/00
출원번호 US-0595583 (2000-06-15)
발명자 / 주소
  • Mize, John D.
  • Gore, Russell B.
  • Fleming, Ronald H.
출원인 / 주소
  • Honeywell International Inc.
대리인 / 주소
    Wells St. John P.S.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 10

초록

The invention encompasses a method of generating information about materials in a composition. A reagent is utilized to dissolve portions of the composition, and thereafter is filtered through a substrate which is then scanned with a microscope using automated displacement of the substrate to obtain

대표청구항

1. A method of generating information about impurities present in a metal composition utilizing a microscope, comprising: utilizing a reagent to selectively dissolve a portion of the composition relative to at least some impurities present in the metal composition, the dissolved portion forming a so

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. King Wayne E. (Western Springs IL), Analysis with electron microscope of multielement samples using pure element standards.
  2. Woodard Floyd E. (Los Altos CA) Peck Larry C. (Mountain View CA), Antireflection coatings.
  3. Sawamura Ichiro (Hachioji JPX) Tsuboshima Kosaku (Hachioji JPX), Apparatus for automatic diagnosis of cells.
  4. Meisburger Dan (San Jose CA 4) Brodie Alan D. (Palo Alto CA) Chadwick Curt (Los Gatos CA) Desai Anil (San Jose CA) Dohse Hans (Pleasanton CA) Emge Dennis (San Jose CA) Greene John (Los Altos CA) John, Electron beam inspection system and method.
  5. Nakanouchi Yukio (9-8 ; Honcho 3-chome ; Ageo-shi ; Saitama JPX) Ohnuma Shigehiro (4-126 ; Oidemae ; Moniwa-aza Sendai-shi ; Miyagi JPX) Masumoto Tsuyoshi (8-22 ; Kamisugi 3-chome Sendai-shi ; Miyagi, Method of producing fine particles.
  6. Kitamura Tadashi (Tokyo JPX), Particle analysis method.
  7. Dabosi Francis ; J. P. (Ramonville Saint Agne FRX) Morancho Roland (Toulouse FRX) Pouteau Dominique (Toulouse FRX), Process for producing a protective film on magnesium containing substrates by chemical vapor deposition of two or more l.
  8. Bogdan Paula L. (Mount Prospect IL), Selective bifunctional multimetallic reforming catalyst.
  9. Satou Michio (Yokohama JPX) Yamanobe Takasi (Yokohama JPX) Kawai Mituo (Yokohama JPX) Komatu Tooru (Yokosuka JPX) Shizu Hiromi (Fujisawa JPX) Yagi Noriaki (Yokohama JPX), Sputtering target and method of manufacturing the same.
  10. Pavate Vikram ; Hansen Keith J. ; Mori Glen ; Narasimhan Murali ; Ramaswami Seshadri ; Nulman Jaim, Target for use in magnetron sputtering of aluminum for forming metallization films having low defect densities and methods for manufacturing and using such target.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Beya, William; Cuoco, Marie; Hinard, Marie-Noelle; Peltier, Beatrice, Counting inclusions in alloys by image analysis.
  2. Jiang, Ping; Chen, Yu; Song, Yukun; Liu, Gongda; Liu, Manni; Wei, Zhihong; Tang, Jian; Zhou, Hong; Hu, Yongli, Determination method of magnesium content in aluminium alloy.
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