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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0472959 (2004-03-09) |
우선권정보 | JP-0226657 (2001-07-26) |
국제출원번호 | PCT/JP02/07541 (2002-07-25) |
국제공개번호 | WO03/01083 (2003-02-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 5 |
A semiconductor Hall sensor can reduce measuring error due to an unbalanced voltage by decreasing the unbalanced voltage, and improve resistance to electrostatic by suppressing maximum electric field in the sensor. A cross-shaped pattern of the semiconductor Hall sensor includes cutouts at its conca
1. A semiconductor Hall sensor having a cross-shaped pattern that includes an input side pattern with a length and width of L1 and W1 and a output side pattern with a length and width of L2 and W2, said semiconductor Hall sensor being characterized in that: a film thickness, impurity concentration,
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