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Sub-micron accuracy edge detector 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/86
  • G01V-008/00
출원번호 US-0935018 (2001-08-22)
발명자 / 주소
  • Steketee, Edward
  • Medberry, John Bernard
  • Guggenheimer, Benno
출원인 / 주소
  • Agilent Technologies, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 5

초록

An edge detector with sub-micron accuracy. The edge detector comprises two single mode optical fibers with an optical path between them. One fiber is coupled to a laser light source, and creates a light beam. The other fiber is coupled to an optical power detector. The optical power reaching the opt

대표청구항

1. An edge detector for detecting an edge of an object, said edge detector comprising:a first optical fiber, with a receiving end and a transmitting end, adapted to receive laser light at the receiving end and create a light beam at the transmitting end;a second optical fiber, with a receiving end a

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Lawrence William R., Chemical sensor and method.
  2. Okumura, Masahiko; Nishi, Kenji, Method and apparatus for positioning substrate and the like.
  3. Masten Billy R. (Shallowater TX), Optical object edge detector using partially covered reference sensor.
  4. Nguyen Donald D. (Lawrenceville NJ), Portable edge crack detector for detecting size and shape of a crack and a portable edge detector.
  5. Bacchi Paul ; Filipski Paul S., Robot arm with specimen edge gripping end effector.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Radahl,Simon, Method and apparatus for aligning a substrate on a stage.
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