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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0078945 (2002-02-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 17 인용 특허 : 42 |
A method and apparatus that uses the difference between two nodal voltages, such as a temperature-independent voltage and a temperature-dependent voltage, to determine the actual temperature at a point on an integrated circuit is provided. Further, a method and apparatus that converts a difference b
1. An apparatus for quantifying a difference in voltage between a first node and a second node, comprising:a voltage generator arranged to concurrently generate a temperature-independent voltage on the first node and a temperature-dependent voltage on the second node;a first oscillator that inputs t
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