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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0452476 (2003-05-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 64 |
A digital eddy current proximity system including a digital impedance measuring device for digitally measuring the proximity probes impedance correlative to displacement motion and position of a metallic target object being monitored. The system further including a cable-length calibration method, a
1. A method for measuring a gap between a proximity probe and a conductive target material, the steps including:providing a proximity probe having a first end located adjacent a conductive target material and having a second end coupled to a first end of an extension cable; measuring an impedance at
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