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X-ray technique-based nonintrusive inspection apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/04
출원번호 US-0300472 (2002-11-19)
발명자 / 주소
  • Banchieri, Andrew J.
  • Kresse, David E.
출원인 / 주소
  • InVision Technologies, Inc.
대리인 / 주소
    Blakely, Sokoloff, Taylor &
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 9

초록

A nonintrusive inspection apparatus is described of the kind having a base frame, an elongated shield on the base frame, a conveyor belt passing through the shield which is used for transporting closed containers, and a rotating CT scanner subsystem which is used for scanning the container on the co

대표청구항

1. A nonintrusive inspection apparatus, comprising:a base frame; a first shield defining a tunnel having a width through which an object can pass, the shield having a length that is at least equal to the width of the tunnel and being mounted along its length to the base frame; a first bearing race c

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Peschmann Kristian R. (San Francisco CA), Automatic concealed object detection system having a pre-scan stage.
  2. Peschmann Kristian R. (San Francisco CA) Harmann Jonathan (San Francisco CA), Automatic concealed object detection system having a pre-scan stage.
  3. Conway Granville Todd ; Maes Michael Patrick ; Conway Brad, Compact scanner apparatus and method.
  4. Alvarez Luis W. (131 Southampton Ave. Berkeley CA 94707), Deuterium tagged articles such as explosives and method for detection thereof.
  5. Fenkart, Gerhard; Mesqui, Francois A.; Kresse, David E.; Baylis, William H., Nonintrusive inspection apparatus.
  6. Fenkart, Gerhard; Mesqui, Francois A.; Kresse, David E.; Baylis, William H., Nonintrusive inspection apparatus.
  7. Fenkart, Gerhard; Mesqui, Fran.cedilla.ois A.; Kresse, David E.; Baylis, William H., Nonintrusive inspection system.
  8. Gerhard Fenkart CH; Fran.cedilla.ois A. Mesqui ; David E. Kresse ; William H. Baylis, Nonintrusive inspection system.
  9. Kresse, David E.; Banchieri, Andrew J.; Sykes, Bradley T., Nonintrusive x-ray-based luggage scanner.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Gatten, Ronald A., Apparatus and method for providing a shielding means for an x-ray detection system.
  2. Awad, William, Body scanner.
  3. Wuestenbecker, Michael; Stuke, Ingo, Method and system for the automated testing and/or measuring of a plurality of substantially identical components using X-ray radiation.
  4. Johnson,Tait; Sykes,Bradley; Gatten,Ronald A., Security scanner with bin return device.
  5. Apetauer, Stephan; Heilmann, Tobias, X-ray scanner.
  6. Awad, William, X-ray scanner.
  7. Matuschek, Walter; Siegel, Christian; Kiefitz, Lisa; Keevy, Graham, X-ray scanner.
  8. Matuschek, Walter; Siegel, Christian; Kiefitz, Lisa; Keevy, Graham, X-ray scanner.
  9. Matuschek, Walter; Siegel, Christian; Kiefitz, Lisa; Keevy, Graham, X-ray scanner.
  10. Matuschek, Walter; Siegel, Christian; Kiefitz, Lisa; Keevy, Graham, X-ray scanner.
  11. Wilden, Felix, X-ray scanner.
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