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Multi-step method for metal deposition 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • C25D-005/34
  • C25D-005/02
  • C25D-011/32
  • C25D-005/10
  • C23C-028/02
출원번호 US-0105027 (2002-03-21)
발명자 / 주소
  • Teerlinck, Ivo
  • Mertens, Paul
출원인 / 주소
  • Interuniversitair Microelektronica Centrum (IMEC)
대리인 / 주소
    Knobbe Martens Olson &
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 4

초록

The invention is related to a method of plating of a metal layer on a substrate. The method is particularly preferred for the formation of metallization structures for integrated circuits.

대표청구항

1. A method for depositing a metal layer comprising a metal on a surface of a substrate, the method comprising the steps of:exposing said substrate to a first solution, said first solution comprising a depolarizing compound, wherein said first solution is substantially free of ions of said metal, wh

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Tsai Wen-Jye,TWX ; Tsai Ming-Hsing,TWX, Gap filling by two-step plating.
  2. Syun-Ming Jang TW, Method for improvement of planarity of electroplated copper.
  3. Hongo, Akihisa; Nagai, Mizuki; Ohno, Kanji; Kimizuka, Ryoichi; Maruyama, Megumi, Method for plating a first layer on a substrate and a second layer on the first layer.
  4. Basol, Bulent, Plating method and apparatus that creates a differential between additive disposed on a top surface and a cavity surface of a workpiece using an external influence.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Lee, Sang-chul; Kim, Min-kyoun; Ko, Min-jin, Cobalt-based alloy electroless plating solution and electroless plating method using the same.
  2. Hayashi, Shinjiro; Takiguchi, Hisanori, Copper plating process.
  3. Hotta, Teruyuki; Ishizaki, Takahiro; Kawase, Tomohiro; Takeuchi, Masaharu, Electroless plating solution, method for electroless plating using the same and method for manufacturing circuit board.
  4. Hotta, Teruyuki; Ishizaki, Takahiro; Kawase, Tomohiro; Takeuchi, Masaharu, Electroless plating solution, method for electroless plating using the same and method for manufacturing circuit board.
  5. Lee, Sam K.; Sharbono, Charles, Electroplating methods for semiconductor substrates.
  6. Xu, Xingling; Webb, Eric, High speed copper plating bath.
  7. Mayer, Steven T.; Drewery, John S., Method and apparatus for uniform electropolishing of damascene IC structures by selective agitation.
  8. Mayer,Steven T.; Reid,Jonathan D.; Rea,Mark L.; Emesh,Ismail T.; Meinhold,Henner W.; Drewery,John S., Method for planar electroplating.
  9. Reid, Jonathan; Varadarajan, Sesha; Emekli, Ugur, Methods and apparatus for depositing copper on tungsten.
  10. Reid, Jonathan; Varadarajan, Sesha; Emekli, Ugur, Methods and apparatus for depositing copper on tungsten.
  11. Mayer, Steven T.; Porter, David W., Modulated metal removal using localized wet etching.
  12. Fouda-Onana, Frederic; Guillet, Nicolas, Process for growing metal particles by electroplating with in situ inhibition.
  13. Mayer, Steven T.; Drewery, John S.; Hill, Richard S.; Archer, Timothy M.; Kepten, Avishai, Selective electrochemical accelerator removal.
  14. Mayer, Steven T.; Drewery, John; Hill, Richard S.; Archer, Timothy; Kepten, Avishai, Selective electrochemical accelerator removal.
  15. Mayer, Steven T.; Stowell, Marshall R.; Drewery, John S.; Hill, Richard S.; Archer, Timothy M.; Kepten, Avishai, Selective electrochemical accelerator removal.
  16. Drewery,John Stephen; Mayer,Steven T., Selectively accelerated plating of metal features.
  17. Mayer, Steven T.; Drewery, John Stephen, Selectively accelerated plating of metal features.
  18. Mayer,Steven T.; Drewery,John Stephen, Selectively accelerated plating of metal features.
  19. Mayer, Steven T.; Rea, Mark L.; Hill, Richard S.; Kepten, Avishai; Stowell, R. Marshall; Webb, Eric G., Topography reduction and control by selective accelerator removal.
  20. Mayer, Steven T.; Rea, Mark L.; Hill, Richard S.; Kepten, Avishai; Stowell, R. Marshall; Webb, Eric G., Topography reduction and control by selective accelerator removal.
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