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Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-019/00
  • G01D-021/00
출원번호 US-0194587 (2002-07-12)
발명자 / 주소
  • Lieber, Kenneth John
  • Browne, Ian B.
  • Tuttle, John
출원인 / 주소
  • Advanced Vision Particle Measurement, Inc.
대리인 / 주소
    Blakely Sokoloff Taylor &
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 23

초록

A control feedback system and method for industrial processes using automated particle or object analysis is disclosed. The control feedback system and method includes a particle characteristic measuring unit to obtain first measured characteristics of a first sample and second measured characterist

대표청구항

1. A process control system, comprising:a particle characteristic measuring unit to obtain first measured characteristics of a first sample and second measured characteristics of a second sample, the first sample having a substantially different characteristic than the second sample; an optimal char

이 특허에 인용된 특허 (23)

  1. Grannes Steven G. (St. Paul MN), Apparatus and method for computer vision measurements.
  2. Schmidt Willibald (Eichsttter St. 49 D-8432 Beilngries DEX), Apparatus for sizing particulate material.
  3. Johnson Richard F. (Vero Beach FL), Automatic particle analyzing system.
  4. Lieber, Kenneth John; Browne, Ian B., Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis.
  5. Kimmel Kevin S. ; Hawk Neal A., Cullet sorting by differential thermal characteristics.
  6. Tao Yang, Defective object inspection and removal systems and methods for identifying and removing defective objects.
  7. Thomas Alan E. ; Bagley Michael C., Dual illumination apparatus for container inspection.
  8. Kawada Tousuke,JPX, Image processing apparatus.
  9. Grove Richard D. (Lakeland FL), Method and apparatus for image analysis of composite ores.
  10. Cavallaro William A. ; Fugere Jeffrey P. ; O'Neil Todd Edwin ; Kaplan John ; Franklin Stephen M., Method and apparatus for measuring the size of drops of a viscous material dispensed from a dispensing system.
  11. Jorgensen Terje (Skien NOX) Strand Oddbjorn E. (Eidanger NOX) Asbjornsen Odd A. (Arnold NOX), Method and apparatus for performing automatic particle analysis.
  12. Shunji Hayashi JP, Method and system for managing semiconductor manufacturing equipment.
  13. Lucas Philip J., Method for inspecting translucent objects using imaging techniques.
  14. Merz Georg (Gedern-Wenings DEX) Gehrmann Heinz (Biebergemuend-Bieber DEX), Method for the analytic determination of physical characteristics of a material.
  15. Konar, Periyathiruvadi Gurunathan, Monitoring system for monitoring processing equipment.
  16. Downing Dennis L., Moving object monitoring system.
  17. Leverett William H., Optical inspection apparatus and method for articles such as fruit and the like.
  18. Ringlien James A., Optical inspection of transparent containers using infrared and polarized visible light.
  19. Nicks Timothy J. ; Ringlien James A., Optical inspection of transparent containers using two cameras and a single light source.
  20. Tokoyama Katsumi (Osaka JPX) Fukuda Tadao (Osaka JPX), Powder granule sample inspection apparatus.
  21. Li Chou H. (379 Elm Dr. Roslyn NY 11576), Self-optimizing method and machine.
  22. Hanson Thomas C. (Buffalo NY), Statistical process control for air separation process.
  23. Sanjay S. Singhvi ; Jerald L. Schnoor, System and method for controlling effluents in treatment systems.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Groves, Conrad Kevin; Dai, Chunping, Characterizing wood furnish by edge pixelated imaging.
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