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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0819824 (2004-04-07) |
우선권정보 | JP-0107855 (2003-04-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 7 |
A reference fixture (20) for a roundness measuring instrument performs acquisition of origin information of a roundness measuring instrument (1) including a workpiece rotary mechanism (3) on which a workpiece is set and a probe (14) provided with a stylus (14a) and also performs calibration of the p
1. A reference fixture for a roundness measuring instrument for acquiring origin information of the roundness measuring instrument that includes a workpiece rotary mechanism rotatable with a workpiece being set thereon and the detector having a sensor for measuring a surface profile of the workpiece
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