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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0090975 (2002-03-05) |
우선권정보 | DE-0011450 (2001-03-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 8 |
The method for evaluating schlieren in glassy or crystalline optical materials includes irradiating a test sample of the optical material with light and producing a shadow image of the test sample on a projection screen. The shadow image of the test sample is received in an electronic image receivin
1. A method of analysis of schlieren, said method comprising the steps of:a) irradiating a test sample with light from a light source; b) producing a shadow image of the test sample on a projection screen; c) receiving the shadow image of the test sample projected on the projection screen in an elec
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