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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0712847 (2003-11-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 70 인용 특허 : 6 |
A device aging determination circuit. Circuits are located on a device, including a first circuit operating at a first duty cycle and generating a first output and a second circuit operating at a second duty cycle different from said first duty cycle and generating a second output. A measuring circu
1. A device aging determination circuit comprising:a first circuit for operating at a first duty cycle and for generating a first output; a second circuit for operating at a second duty cycle different from said first duty cycle and for generating a second output; and a measuring circuit for determi
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