$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Ultrasonic conditioning device cleaner for chemical mechanical polishing systems 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-001/00
출원번호 US-0303458 (2002-11-25)
발명자 / 주소
  • Janzen, John W.
출원인 / 주소
  • Honeywell International, Inc.
대리인 / 주소
    Schiff Hardin LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 11

초록

A method and system for cleaning conditioning devices used in chemical mechanical polishing (CMP) systems is disclosed. The system includes a robotic arm for holding and transporting the conditioning device between the polish pad area of the machine and the conditioning device cleaning area. The cle

대표청구항

1. A method comprising:polishing an object with a polishing pad of a chemical mechanical polishing system; conditioning the polishing pad while the object is being polished; removing the conditioning device from the polishing pad; transporting the conditioning device to a conditioning tank containin

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Appel Andrew Thorton ; Chisholm Michael Francis, Apparatus integrating pad conditioner with a wafer carrier for chemical-mechanical polishing applications.
  2. Hempel ; Jr. Eugene O. (Garland TX), CMP polishing pad conditioning apparatus.
  3. Chen Lai-Juh,TWX, Chemical-mechanical polish (CMP) pad conditioner.
  4. Chen Lai-Juh,TWX, Chemical-mechanical polish (CMP) pad conditioner.
  5. Wu Kun-Lin,TWX ; Lai Chien-Hsien,TWX ; Lu Horng-Bor,TWX ; Lin Jenn-Tarng,TWX, Method of cleaning slurry remnants after the completion of a chemical-mechanical polish process.
  6. Tsao Alwin J. ; Gillespie Paul M., Method to optimize copper chemical-mechanical polishing in a copper damascene interconnect process for integrated circuit applications.
  7. Hirokawa Kazuto,JPX ; Hiyama Hirokuni,JPX ; Wada Yutaka,JPX ; Matsuo Hisanori,JPX, Polishing apparatus and method of manufacturing grinding plate.
  8. Torii Kouzi,JPX, Polishing apparatus having a material for adjusting a surface of a polishing pad and method for adjusting the surface of the polishing pad.
  9. Iida Shinya,JPX ; Yoshida Akitoshi,JPX, Slurry recycling system of CMP apparatus and method of same.
  10. Allman Derryl D. J. ; Gregory John W., Subsonic to supersonic and ultrasonic conditioning of a polishing pad in a chemical mechanical polishing apparatus.
  11. Allman Derryl D.J. ; Gregory John W., Subsonic to supersonic and ultrasonic conditioning of a polishing pad in a chemical mechanical polishing apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Lin, Yu-Liang; Hwang, Chien Ling; Wang, Jean; Yu, Chen-Hua, Polishing apparatus.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로