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Carrier head with a non-stick membrane 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-007/22
출원번호 US-0943296 (2004-09-17)
§371/§102 date 20030428 (20030428)
발명자 / 주소
  • Zuniga, Steven M.
  • Chen, Hung Chih
출원인 / 주소
  • Applied Materials, Inc.
대리인 / 주소
    Fish &
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 8

초록

A carrier head for chemical mechanical polishing of a substrate includes a base and a flexible membrane extending beneath the base to define a chamber. The flexible membrane has a core of a first material and an outer layer of a second material having a lower adhesion to the substrate than the first

대표청구항

1. A carrier head for chemical mechanical polishing of a substrate, comprising:a base; anda flexible membrane extending beneath the base to define a chamber and provide a mounting surface against which a substrate may be positioned, wherein the mounting surface holds the substrate and the mounting s

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Lin Chih-Lung,TWX, Apparatus and method for controlling polishing profile in chemical mechanical polishing.
  2. Zuniga Steven ; Chen Hung, Carrier head for chemical mechanical polishing.
  3. Zuniga Steven M. ; Birang Manoocher ; Chen Hung ; Ko Sen-Hou, Carrier head with a flexible membrane for a chemical mechanical polishing system.
  4. Custer, Daniel G.; Ward, Aaron Trent, Carrier heads, planarizing machines and methods for mechanical or chemical-mechanical planarization of microelectronic-device substrate assemblies.
  5. Shendon Norman (San Carlos CA), Chemical mechanical polishing apparatus with improved carrier and method of use.
  6. Mitchel Fred E. ; Adams John A. ; Bibby Thomas Frederick A., Semiconductor wafer polishing apparatus with a variable polishing force wafer carrier head.
  7. Hu Tien-Chen,TWX ; Yi Tsen-Hsing,TWX ; Lee Chien-Hsien,TWX ; Lee Ming-Yi,TWX, Wafer mounting plate for a polishing apparatus and method of using.
  8. Kobayashi, Tatsunori; Tanaka, Hiroshi; Kajiwara, Jiro, Wafer-polishing head and polishing apparatus having the same.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Paik, Young J.; Bhatnagar, Ashish; Narendrnath, Kadthala Ramaya, Carrier head membrane roughness to control polishing rate.
  2. Fukushima, Makoto; Yasuda, Hozumi; Nabeya, Osamu; Watanabe, Katsuhide; Namiki, Keisuke, Elastic membrane for semiconductor wafer polishing.
  3. Fukushima, Makoto; Yasuda, Hozumi; Nabeya, Osamu; Watanabe, Katsuhide; Namiki, Keisuke, Elastic membrane for semiconductor wafer polishing.
  4. Chen, Hung Chih; Oh, Jeonghoon; Siu, Tsz-Sin; Brezoczky, Thomas B.; Zuniga, Steven M., Multiple zone carrier head with flexible membrane.
  5. Chen, Hung Chih; Oh, Jeonghoon; Siu, Tsz-Sin; Brezoczky, Thomas; Zuniga, Steven M., Multiple zone carrier head with flexible membrane.
  6. Chen,Hung Chih; Oh,Jeonghoon; Siu,Tsz Sin; Brezoczky,Thomas; Zuniga,Steven M., Multiple zone carrier head with flexible membrane.
  7. Chen, Hung Chih; Hsu, Samuel Chu-Chiang; Dandavate, Gautam Shashank; Koosau, Denis M., Polishing head zone boundary smoothing.
  8. Chen, Hung Chih; Hsu, Samuel Chu-Chiang; Dandavate, Gautam Shashank; Koosau, Denis M., Polishing head zone boundary smoothing.
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