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Apparatus and method for monitoring and maintaining plant equipment 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-011/30
  • G06F-015/00
출원번호 US-0741075 (2003-12-19)
발명자 / 주소
  • Bjornson, Carl C.
출원인 / 주소
  • Northeast Equipment, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 7

초록

A computer system implements a process for gathering, synthesizing, and analyzing data relating to a pump and/or seal or other rotating equipment failure. Data indicating the current state of the equipment is gathered and verified prior to a failure occurring so that accurate information is availabl

대표청구항

1. A method for analyzing a failure in a piece of equipment, the method comprising the steps of:providing to a user data comprising visual images depicting observable symptoms representative of a plurality of possible failure modes corresponding with the piece of equipment, said visual images usable

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Singh Guryinder P. (9303 Lockridge San Antonio TX 78250), Apparatus and method for expert analysis of metal failure with automated visual aids.
  2. Mortier Mark (3105 11th Ave. Moline IL 61265), Brake diagnostic computer.
  3. Zhou Jiaxiang, Diagnosis process of vacuum failure in a vacuum chamber.
  4. Peng Yeng-Kaung ; Ho Siu-May ; Shiau Ying, Method and apparatus for pattern recognition of wafer test bins.
  5. Kahn Randolph W. ; Prosack Hank G. ; Vickers Kenneth G., Method and system for enhancing the identification of causes of variations in the performance of manufactured articles.
  6. McCown Patricia M. (Cresskill NJ) Conway Timothy J. (Highland Park NJ) Jessen Karl M. (Bayonne NJ), Methods and apparatus for monitoring system performance.
  7. Uchida Shunsuke,JPX ; Fujimori Haruo,JPX ; Takahashi Fuminobu,JPX ; Fukuzaki Takaharu,JPX ; Yamada Izumi,JPX, Plant monitoring and diagnosing method and system, as well as plant equipped with the system.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Nguyen, Anh T.; Emigholz, Kenneth F.; Woo, Stephen S.; Vercher, Stephen D.; Orsak, Steven M.; Alagappan, Perry, Application of abnormal event detection (AED) technology to polymers.
  2. Schroeder, John P.; Mulders, Eric, Industrial plant equipment, process and maintenance optimization.
  3. Ko, Byung-Su; Vaidhyanathan, Ramesh; Richter, Jeffrey; O'Connor, Thomas F., Integrated expert system for identifying abnormal events in an industrial plant.
  4. Keyes, Marion A.; Deshmukh, Rahul; Cacciatore, Gary G.; Staphanos, Stephen J.; Kennedy, James Patrick, Shared-use data processing for process control systems.
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