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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0030317 (2000-04-14) |
우선권정보 | GB-0009319 (1999-04-22) |
국제출원번호 | PCT//GB00/01431 (2001-10-19) |
§371/§102 date | 20011019 (20011019) |
국제공개번호 | WO00//65328 (2000-11-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 12 |
An apparatus for measuring decay in intensity of electromagnetic radiation passing through a radiation-absorbent sample due to absorption of radiation by the sample is disclosed which includes a source of electromagnetic radiation having a wavelength within an absorption band of the sample and a plu
1. An apparatus for measuring decay in intensity of electromagnetic radiation passing through a radiation-absorbent sample due to absorption of radiation by the sample, comprising a source of electromagnetic radiation having a wavelength within an absorption band of the sample,partially-reflective m
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