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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0440276 (2003-05-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 7 |
A test circuit receives a reference signal having a reference frequency and generates a synchronizer input signal having a synchronizer input frequency for inputting into a synchronizer circuit. A frequency generator is configured to offset the synchronizer input frequency at selectable frequencies
1. A test circuit, comprising:an input configured to receive a reference signal having a reference frequency;an output configured to generate a synchronizer input signal having a synchronizer input frequency for inputting into a synchronizer circuit;a frequency generator configured to vary the synch
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