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Two band imaging system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-025/00
출원번호 US-0601893 (2003-06-19)
발명자 / 주소
  • Hillenbrand, Eric
  • Dombrowski, Mark
  • Lorenz, Jim
  • Li, Ming-De
  • Ford, Eric
출원인 / 주소
  • The United States of America as represented by the Secretary of the Navy
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 12

초록

A two band imaging system having two focal plane array detectors, a beam splitter, and an enclosure. The beam splitter disposed within the system at an angle to the optical axis such that light entering the system is split and is simultaneously directed to each of the two focal plane array detectors

대표청구항

1. A two band imaging system, the two band system having an optical axis, the two band imaging system comprising:a. a mounting assembly;b. two infrared focal plane array detectors, the two infrared focal plane array detectors mounted on the mounting assembly, the two infrared focal plane array detec

이 특허에 인용된 특허 (12)

  1. Wolff, Lawrence B.; Hutt, Marvin, Common aperture fused reflective/thermal emitted sensor and system.
  2. Kraemer Werner (Conklin NY), Head mounted visual display.
  3. Barbour Blair A. (Madison AL), Ice monitoring and detection system.
  4. Dombrowski Mark (Escondido CA) Lorenz James (Escondido CA), Imaging spectroradiometer.
  5. Dombrowski Mark (Escondido CA) Lorenz James (Escondido CA), Imaging spectroradiometer.
  6. Dombrowski Mark ; Lorenz James, Imaging spectroradiometer.
  7. Dombrowski Mark ; Lorenz James, Imaging spectroradiometer.
  8. Waxman Allen M. (Newton MA) Fay David A. (Somerville MA) Gove Alan N. (Brookline MA) Seibert Michael C. (Bedford MA) Racamato Joseph P. (Tewksbury MA), Method and apparatus for generating a synthetic image by the fusion of signals representative of different views of the.
  9. Snodderly D. Max ; Land Richard I. ; Wooten Billy R., Method and apparatus for measuring visual sensitivity and optical properties of components of the eye.
  10. Zeng, Haishan; Lam, Stephen; Palcic, Branko Michael, Methods and apparatus for fluorescence and reflectance imaging and spectroscopy and for contemporaneous measurements of electromagnetic radiation with multiple measuring devices.
  11. Treado, Patrick J.; Bangalore, Arjun; Nelson, Matthew P.; Zugates, Christopher T., Simultaneous imaging and spectroscopy apparatus.
  12. Lindgren Gary M. (Agoura CA) Spagnolia Joseph A. (Canoga Park CA) Kay Anthony J. (Moorpark CA), Wide dynamic range non-uniformity compensation for infrared focal plane arrays.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Tidhar, Gil, Gunshot detection system and method.
  2. Rowe, T. Scott, Handheld reflectometer for measuring macular pigment.
  3. Pochapsky,Eugene, Image combining viewer.
  4. Gierhart, Dennis L.; Barber, Christopher Gerald; Grover, Malcolm Stuart, Macular pigment measurement device with data quality indexing feature.
  5. Crow,Robert Walter; Loizides,Craig Emmanuel, Methods and apparatus for locating and classifying optical radiation.
  6. van Hoorebeke, Tristan; Devitt, John, Multi-channel imaging devices.
  7. van Hoorebeke, Tristan; Devitt, John, Multi-channel imaging devices comprising unit cells.
  8. van de Kraats,Jan; van Norren,Dirk; Berendschot,Tos T. J. M., Reflectometry instrument and method for measuring macular pigment.
  9. Tominaga,Hideki; Ohkubo,Kunihiko; Kondo,Yasushi, Two-color radiation thermometer.
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