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System, method, and apparatus for handling and testing individual sliders in a row-like format in single slider processing systems 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-033/12
  • G01R-031/28
출원번호 US-0891777 (2004-07-15)
발명자 / 주소
  • Luo,Jih Shiuan
  • Sanayei,Ali
  • Smith,Darrick Taylor
출원인 / 주소
  • Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V.
대리인 / 주소
    Bracewell &
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 10

초록

A device for handling and testing individual sliders in a row-like format utilizes an elongated, row-like holder having a series of small pockets, each of which receives a single slider. After the sliders enter the holder, a clamp is moved to a closed position to retain the sliders in the holder. Th

대표청구항

What is claimed is: 1. A system for handling and testing sliders to reduce handling-induced electrostatic discharge and mechanical stress and damage thereto, each of the sliders having a plurality of contact pads formed thereon, the system comprising: a slider holder having a plurality of pockets f

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Shelor Rick, Apparatus for testing multiple magnetic recording heads.
  2. Hembree David R. ; Farnworth Warren M. ; Wood Alan G. ; Gochnour Derek ; Akram Salman, Carrier and system for testing bumped semiconductor components.
  3. Karmaniolas, Nick; Tao, Wesley Hiroshi; Zheng, Li, Fixture, carrier ring, and method for processing delicate workpieces.
  4. Lackey Lauren D., Row carrier for precision lapping of disk drive heads and for handling of heads during the slider fab operation.
  5. Lackey Lauren D. ; Lackey Stanley A, Row carrier for precision lapping of disk drive heads and for handling of heads during the slider fab operation.
  6. Carrington, Chris; Fang, Peter Cheng-I; Horne, Don; Keener, Christopher Dana; Mackay, Kenneth Donald; Perez, Jr., Antonio; Stukey, Jr., Frederick William, Screening test for transverse magnetic-field excited noise in giant magnetoresistive heads.
  7. Kainuma, Norio; Kira, Hidehiko; Hiraoka, Shinji; Yamanishi, Hirokazu; Suzuki, Atsushi, Slider tester.
  8. Todd A. Luse ; James R. Peterson ; Thien T. Tu, Thermal slider level transfer curve tester for testing recording heads.
  9. Quintana Dan W. ; Broussalian Chris ; Keil ; Jr. John ; Nielsen Georgene ; Jemelka Jorg ; Chesnutt Robert ; Trowbridge William, Tool for processing magnetic read/write heads.
  10. Bell Sonny ; Chang Buddy ; Lelong Xavier Charles ; Pacheco Edward Joseph ; Valdes Bruno Alejandro ; Zung Michael, Two-piece tube.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Chang, Pei-Ming, Circuit board testing system.
  2. Bamrungtham, Ritthirong, Component receptacle to segregate components.
  3. Liu, Jian, Method of measuring slider resistance of different types of row bar with a common tester.
  4. Moravec, Mark D.; Taechangam, Phanphat; Brothers, Alan H., Method to stress relieve a magnetic recording head transducer utilizing ultrasonic cavitation.
  5. Fox, Ciaran A.; Maceren, Ma. V. C.; Tag-at, Ray N. M., Real time electrostatic discharge (ESD) detection.
  6. Lee, Reginald, Row bar holder.
  7. Moravec, Mark D.; Supavasuthi, Chakkrit; Yaemglin, Theera, Systems and methods for correcting read/write overlay errors in the manufacture of magnetic transducers for storage drives.
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