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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0337246 (2003-01-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 20 |
An instrument measures the LED junction temperature directly by taking advantage of the linear relationship between the forward current driven through the LED, the forward drop of the LED, and the junction temperature to determine the LED junction temperature. Calibration is conducted by placing two
What is claimed is: 1. A test instrument for measuring a junction temperature of an LED, comprising: an interface that holds a test LED and a reference LED; a first current source that sends a fixed current through the test LED and the reference LED during a calibration mode; a second current sour
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