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Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects along uneven surfaces using spatially controlled heat application

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/72
출원번호 US-0410605 (2003-04-10)
발명자 / 주소
  • Reilly,Thomas L.
  • Jacobstein,A. Ronald
  • Cramer,K. Elliott
출원인 / 주소
  • Reilly,Thomas L.
  • Jacobstein,A. Ronald
  • Cramer,K. Elliott
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 19

초록

A method and apparatus for testing a material such as the water-wall tubes in boilers includes the use of a portable thermal line heater having radiation shields to control the amount of thermal radiation that reaches a thermal imager. A procedure corrects for variations in the initial temperature o

대표청구항

What is claimed is: 1. A method of testing a material comprising: directing thermal radiation onto the material to heat the material above ambient; moving the thermal radiation along the material in a direction at a constant rate with respect to the material; and thermally imaging the material to c

이 특허에 인용된 특허 (19)

  1. Reynolds William N. (Reading GBX) Milne James M. (Abingdon GBX), Crack sizing.
  2. Peter Meinlschmidt DE; Joerg Sembach DE, Device and method for non-contact detection of structural and/or surface faults in large surface bodies.
  3. White William J. (Chelmsford MA), Etchable glass cold shield for background limited detectors.
  4. Jungkman David L. (Hudson NH) Howard James W. (Natick MA), Glass cold shield.
  5. Thomas, Robert L.; Favro, Lawrence D.; Han, Xiaoyan, Hand-held sound source gun for infrared imaging of sub-surface defects in materials.
  6. Allred Lloyd G., Infrared assessment system.
  7. Schlagheck Jerry G. (West Chester OH), Infrared inspection system and method employing emissivity indications.
  8. Koshihara Toshio (Tokyo JPX) Ishihara Koji (Tokyo JPX) Hirashima Toru (Tokyo JPX) Ishida Shunichiro (Tokyo JPX) Okamoto Haruhito (Tokyo JPX) Matoba Yuji (Tokyo JPX), Method and apparatus for detecting defective portion on outer surface of pipe.
  9. Harry Israel Ringermacher ; Donald Robert Howard ; Ravindra Kumar Pandey, Method and apparatus for quantitative nondestructive evaluation of metal airfoils using high resolution transient thermography.
  10. Cramer K. Elliott ; Winfree William P., Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects using spatially controlled heat application.
  11. Adams Mark J. (Kennesaw GA) Crisman ; Jr. Elton M. (Blairsville GA), Method of and apparatus for detecting corrosion utilizing infrared analysis.
  12. Ringermacher Harry I. ; Archacki ; Jr. Raymond J. ; Veronesi William A., Nondestructive testing: transient depth thermography.
  13. Miyamoto Yoshihiro (Atsugi JPX), Optical shield for image sensing device.
  14. Sera Yoshihiro,JPX, Peeling detector for tunnel wall.
  15. Watkins, Michael L.; Fleischhauer, Grier S.; Lilly, Jr., A. Clifton, Process control by transient thermography.
  16. Lesniak Jon R. (Madison WI), Structure analysis method using time-varying thermal signal.
  17. Shepard, Steven M., System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction.
  18. Thomas, Robert L.; Favro, Lawrence D.; Han, Xiaoyan; Ouyang, Zhong; Sui, Hua; Sun, Gang, Thermal imaging system for detecting defects.
  19. Crisman ; Jr. Elton M. (Saint Cloud FL), Thermographic evaluation technique.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Pfitzner, Dieter; Hesse, Tim; Magg, Winfried, Detecting defects during laser welding.
  2. Pfitzner, Dieter; Hesse, Tim; Magg, Winfried, Detecting defects during laser welding.
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