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Attenuator test system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-019/00
출원번호 US-0767038 (2004-01-29)
발명자 / 주소
  • Clarke,Jeffrey R.
  • Buckley,Robert M.
  • Silhan,Dean R.
출원인 / 주소
  • Advanced Testing Technologies, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 11

초록

System for testing attenuators by a flatness and standing wave ratio tests which includes a vector network analyzer (VNA) adapted to be coupled to a device under test (DUT) and which provides an input stimulus signal for the DUT and, when certain conditions are satisfied, receives an output signal f

대표청구항

We claim: 1. A system for testing attenuators, comprising: a vector network analyzer adapted to be coupled to a device under test (DUT), said network analyzer being arranged to provide an input stimulus signal for the DUT and being arranged to receive an output signal from the DUT; a down-converter

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Bradley Donald A. (Morgan Hill CA) Grace Martin I. (San Jose CA) Thornton Douglas R. (Felton CA) Finch David P. (Morgan Hill CA), Apparatus and method for measuring the phase and magnitude of microwave signals.
  2. DiLeo Christopher C. (Brewster NY), Attenuator circuit ultrasonic testing.
  3. Liu Woo-Yang,TWX ; Hwang Chun-Hsiung,TWX ; Hung Ming-Ho,TWX, Calibration method for step attenuator.
  4. Sprenger Michael Kent ; Sater Glen Eugene, Integrated test and measurement means employing a graphical user interface.
  5. Wang, Chung-Chih; Chang, Yao-Hao, Optical loop-back attenuator.
  6. Singer Paul A. (Santee CA) Conrath James L. (San Diego CA), Programmable time varying attenuator.
  7. Vencel Leslie J. (Fulham Gardens AUX) Schutz Jonathan J. (Para Vista AUX) Coupe Rahmon C. (Glenalta AUX) Hoffensetz Martin J. (Evandale AUX) Capon Scott J. (Elizabeth Field AUX) Wrigley Ian G. (Tea T, Radar return signal simulator.
  8. Ryan Arthur ; Andrade Hugo, Reconfigurable test system.
  9. Sojoodi Omid ; Rust Scott A., System and method for performing interface independent virtual instrumentation functions in a graphical data flow progr.
  10. Satoshi Umezu JP; Takahiro Yamaguchi JP; Jun Miyajima JP, Testing system for performing an operation of an application which controls testing equipment for testing a device under test and method for controlling the same.
  11. Kapetanic, Peter; Martens, Jon; Rangel, David, Vector network measurement system.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Bradley, Donald Anthony, Exact phase synchronization of a remote receiver with a measurement instrument.
  2. AbouKhousa, Mohamed Ahmed; Zoughi, Reza; Kharkivskiy, Sergiy, High frequency analysis of a device under test.
  3. Zoughi, Reza; AbouKhousa, Mohamed Ahmed; Kharkivskiy, Sergiy, High frequency analysis of a device under test.
  4. Bradley, Donald Anthony, Phase synchronization of measuring instruments using free space transmission.
  5. Bradley, Donald Anthony, Real-time phase synchronization of a remote receiver with a measurement instrument.
  6. Bradley, Donald Anthony, Synchronization of a remote wide band receiver using a narrow band low frequency signal.
  7. Korpi, Emery; Levi, Eli; Britch, Peter F, Test system and method for testing electromechanical components.
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