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Anti-reflection film and microscope having optical element with the same anti-reflection film applied thereto 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G02B-021/36
  • G02B-021/00
출원번호 US-0932055 (2004-09-02)
우선권정보 JP-2004-232613(2004-08-09)
발명자 / 주소
  • Yonetani,Atsushi
  • Uzawa,Kunihiko
  • Kawamata,Ken
  • Wada,Yorio
  • Toyohara,Nobuyoshi
  • Deguchi,Takeshi
출원인 / 주소
  • Olympus Corporation
대리인 / 주소
    Kenyon &
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 3

초록

A microscope includes an optical element provided with an anti-reflection film applied thereto. The anti-reflection film has the following layered structure: having first to sixth layers of films, in order from the surface of the optical element, formed of a high-refractive-index material for eac

대표청구항

What is claimed is: 1. An image-pickup unit that achieves removable mount on a microscope, comprising: an image-pickup device having an image-pickup element that picks up an image by the microscope; and a dust protection glass arranged in front of the image-pickup device, wherein the dust protectio

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Corle Timothy R. (Palo Alto CA) Mallory Chester L. (Campbell CA) Wasserman Philip D. (Cupertino CA), Confocal scanning optical microscope.
  2. Oyama Takuji (Yokohama JPX) Mizuhashi Mamoru (Yokohama JPX), Optical article having improved heat resistance.
  3. Watanabe, Tadashi; Yamashita, Hideto; Kohsaka, Masato; Yamauchi, Takao; Kurata, Kiyonobu, Two-wavelength antireflection film and objective lens coated with two-wavelength antireflection film.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Okabe, Kenji; Nagahama, Tatsuya; Kaneko, Nobuya, Optical measuring device.
  2. Okabe, Kenji; Nagahama, Tatsuya; Kaneko, Nobuya, Optical measuring device.
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