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Device and method for a quality test of a body 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
출원번호 US-0433994 (2001-12-13)
우선권정보 DE-100 62 251(2000-12-14)
국제출원번호 PCT/EP01/014701 (2001-12-13)
§371/§102 date 20031023 (20031023)
국제공개번호 WO02/048670 (2002-06-20)
발명자 / 주소
  • Hassler,Ulf
  • Schmitt,Peter
  • Kostka,Guenther
출원인 / 주소
  • Fraunhofer Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V
대리인 / 주소
    Beyer Weaver &
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 13

초록

A device for quality testing of a body comprising a surface comprising a structuring bounded by edges and a substantially edge-free unevenness, wherein the structuring illustrates a quality impairment and wherein the unevenness illustrates a potential quality impairment, includes a means for generat

대표청구항

What is claimed is: 1. An apparatus for quality testing a body having a surface comprising a structure bounded by eases and a substantially edge-tree unevenness, wherein the structure does not constitute a quality impairment, and wherein the unevenness constitutes a potential quality impairment, co

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Sepai Dinyar (Framingham MA) Daly Kevin R. (Stow MA) Whalen Brian L. (Grafton MA) Hong Khanh (Ashland MA) Jones George B. (Stow MA), Apparatus and method for inspection of high component density printed circuit board.
  2. Kostka, Guenther; Schmitt, Peter; Hassler, Ulf; Hanke, Randolf, Detection of irregularities in a convex surface, such as a tire sidewall, using band-pass filtering.
  3. Chernoff Donald A. ; Lohr Jason D., High precison calibration and feature measurement system for a scanning probe microscope.
  4. Nagasaki Masato,JPX ; Tsunekawa Tomoyoshi,JPX ; Matsubara Yoichi,JPX ; Kotagiri Akira,JPX, Inspection of solder bumps of bump-attached circuit board.
  5. Tsuji Naotaka (Higashiyamato JPX), Method and apparatus for detecting defects in pneumatic tire.
  6. Sube H. James (Stow OH) Fritschel Larry E. (Stow OH) Siegfried James F. (Medina OH) Dory Arthur J. (Akron OH) Turner John L. (Akron OH), Method and apparatus for measuring tire parameters.
  7. Engel Jean (Bissen LUX), Method and apparatus for sidewall bulge and valley detection.
  8. Newman John W., Method for analyzing a separation in a deformable structure.
  9. Suzuki Kouji (Musashino JPX) Takata Takanori (Higashimurayama JPX), Method of and apparatus for inspecting pneumatic tire.
  10. Tsuji Naotaka (Tokyo JPX), Method of detecting defects in pneumatic tire in non-destructive manner.
  11. Sarr Dennis P. (Kent WA), Scratch measurement apparatus and method.
  12. Rottenkolber Hans (Amerang DEX), Tire checking apparatus.
  13. Fisher ; III Thomas W. (Akron OH), Tire sidewall deformity tester and method.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Berry, Charles D.; Kidney, Jacob R.; Stuckey, Jon I.; Sube, H. James, Apparatus and method for measuring local tire stiffness.
  2. Hassler,Ulf; Schmitt,Peter; Kostka,Guenther, Device and method for a quality test of a body.
  3. Lilienblum, Tilo; Schmidt, Wolfram, Device and method for measuring surfaces.
  4. Uffenkamp, Volker; Nobis, Guenter, Method for the determination of the wheel geometry and/or axle geometry of motor vehicles.
  5. Yang, Wuhua; Tilove, Robert Bruce, Method of appearance deformation indexing.
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