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Control system health test system and method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-011/30
  • G01M-017/00
  • G05B-013/02
출원번호 US-0740455 (2003-12-22)
발명자 / 주소
  • Hoff,Brian D.
  • Johnson,Kris W.
  • Akasam,Sivaprasad
  • Baker,Thomas M.
출원인 / 주소
  • Caterpillar Inc.
대리인 / 주소
    Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett &
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 27

초록

A method is provided for testing multiple elements of a work machine, including a control system, a component, a sub-component that is influenced by operations of the component, and a sensor that monitors a characteristic of the sub-component. In one embodiment, the method is performed by the contro

대표청구항

What is claimed is: 1. A method for testing multiple elements of a work machine, including a control system, a component, a sub-component that is influenced by operations of the component, and a sensor that monitors a characteristic of the sub-component, the method performed by the control system c

이 특허에 인용된 특허 (27)

  1. Brown, Douglas P.; Sinclair, Paul, Analysis method and apparatus for a parallel system.
  2. Underwood Marcos A. (21850 Byrne Cupertino CA 95014), Apparatus and method for adaptive closed loop control of shock testing system.
  3. Rockwell Kenneth N. (Yorba Linda CA) Minuskin Harold (Tustin CA), Apparatus for testing multiconductor cables and having transition circuit means for extending its capability.
  4. Mohebban Manoochehr (Foster City CA), Device for A.C. voltage testing using a voltage multiplier and LCD display.
  5. Schleiss, Trevor D.; Nixon, Mark; Blevins, Terrence Lynn; Brase, Todd B.; Ganesamoorthi, Suresh, Diagnostic expert in a process control system.
  6. Wilson, Bary W.; Heister, Earl; Greitzer, Frank L., Diagnostics/prognostics using wireless links.
  7. Petersen Gerald W. (Walnut Creek CA), Digital in-circuit tester.
  8. Champlin Keith S. (5437 Elliot Ave. South Minneapolis MN 55417), Electronic battery tester with very high noise immunity.
  9. Williams, Richard L., Electronic control circuit systems analyzer.
  10. Nagayoshi Yoshimasa (Kyoto JPX) Asano Takeshi (Kusatsu JPX) Maruyama Ikuo (Kameoka JPX) Kinoshita Masakazu (Kyoto JPX), Fault diagnosis apparatus and method for vehicle control system.
  11. Shirane Yoshiyuki (Saitama JPX) Iwasa Seiichi (Saitama JPX) Suzuki Yoshio (Saitama JPX) Kuramochi Kiyoshi (Saitama JPX) Kokubo Kazuo (Saitama JPX) Ohno Tetsuya (Saitama JPX) Mizuno Kimio (Saitama JPX, Fault diagnostic system for vehicles using identification and program codes.
  12. Irons John M. ; Lewandowski Edward J. ; Decker Scott G. ; Greathouse Gregg G. ; Tusneem Irfan, Fault recognition system and method for an internal combustion engine.
  13. Kovacich George (602 Ash St. Anaconda MT 59711) Kovacich George (803 W. Seventh St. Anaconda MT 59711), High or low voltage electrical resistance tester.
  14. Raymond Douglas W. (Orinda CA) Garrett Thomas C. (Walnut Creek CA), In-circuit digital tester.
  15. Jacobson Robert G. (Brentwood CA), In-circuit digital tester for testing microprocessor boards.
  16. Letang, Dennis Michael; Avery, Jr., Richard Michael, Maintenance alert system for heavy-duty trucks.
  17. Gutz David A. (Danvers MA) Idelchik Michael S. (Swampscott MA), Method and apparatus for actuator fault detection.
  18. Usui Shigeru,JPX ; Yokoi Hiroshi,JPX ; Sasaki Kazumune,JPX, Method and apparatus for diagnosing a vehicle.
  19. Itoh Yasunobu (Okazaki JPX) Katoh Kiyohide (Chiryu JPX), Method and apparatus for self-diagnosis for an electronic control system for vehicles.
  20. Hamblin Michael W. (Stow MA) Robinson Gordon D. (Acton MA), Method for automatic open-circuit detection.
  21. Nopper Peter (Lyss CHX), Method of detecting insulation faults and spark tester for implementing the method.
  22. Quinnett, Wilbur V.; Koerner, Scott A.; Szukala, Lester M.; Bylsma, Phillip J., Methods and apparatus for engine diagnostics.
  23. Frederick M. Discenzo, Modular data collection and analysis system.
  24. Haas, Robert N., Simulator complex data transmission system having self-testing capabilities.
  25. Kurien, James A.; Koutsoukos, Xenofon; Zhao, Feng, Systems and methods for distributed algorithm for optimization-based diagnosis.
  26. Schwanke Robert E. (Camarillo CA) Icuss James C. (Escondido CA), Tester for measuring signal propagation delay through electronic components.
  27. Mulz Robert H. (3927 Palm Ave. San Diego CA 92154), Tester for solid state electronic components.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Koizumi, Takashi; Usui, Hiroshi; Yasuda, Kiyoshi, Actuator monitoring circuit, controller, and actuator unit.
  2. Novis, Ari; Johnson, Christopher A., Degraded actuator detection.
  3. Schulte, John Paul, Digitally compensated process transmitter with minimal dead time.
  4. Lattin, Robert M., Electrical storage element control system for a vehicle.
  5. Schulte, John Paul; Trimble, Steven Richard; Reller, Troy Michael, Minimal dead time digitally compensated process transmitter.
  6. Lattin, Robert M., Monitoring and control system for an electrical storage system of a vehicle.
  7. Reidl, Christian; Granig, Wolfgang; Witschnig, Harald; Hammerschmidt, Dirk, Sensor with interface for functional safety.
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