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특허 상세정보

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Inspection unit

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/02   
미국특허분류(USC) 324/754
출원번호 US-0238054 (2005-09-29)
우선권정보 JP-P2004-288231(2004-09-30)
발명자 / 주소
  • Yoshida,Takuto
  • Sato,Atsushi
출원인 / 주소
  • Yokowo Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Morgan, Lewis &
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 2
초록
▼

A conductive member has a first face adapted to be mounted on a board on which an inspection circuit is arranged and a second face adapted to be opposed to a device to be inspected. The conductive member being formed with a first through hole having a first diameter and communicating the first face with the second face. A contact probe is provided with a tubular body having a second diameter which is smaller than the first diameter, and a plunger retractably projected from one end of the tubular body. A first retainer is formed with a second through hole...

대표
청구항
▼

What is claimed is: 1. An inspection unit, comprising: a conductive member, having a first face adapted to be mounted on a board on which an inspection circuit is arranged and a second face adapted to be opposed to a device to be inspected, the conductive member being formed with a first through hole having a first diameter and communicating the first face with the second face; a contact probe, comprising a tubular body having a second diameter which is smaller than the first diameter, and a plunger retractably projected from one end of the tubular body...

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Roque David ; Chandrasekhar Rajagopalan, Flexible circuit connector.
  2. Root, Bryan J., Probe tile for probing semiconductor wafer.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Yoshida,Takuto, Method of manufacturing inspection unit.
  2. Meng, Jian, Probe supporting and aligning apparatus.
  3. Meng, Jian, Probe supporting and aligning apparatus.
  4. Henry,David W.; Thurston,William E., Probe with contact ring.
  5. Do, Trent K., Surface connector with silicone spring member.
  6. Wagman, Daniel C.; Jol, Eric S.; Do, Trent K., Surface connector with silicone spring member.
  7. Hasegawa, Tohru, Switch probe and device and system for substrate inspection.
  8. Cartier, Jr., Marc B., Test system with high frequency interposer.

IPC 상위 출원인