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Method of and apparatus for removing contaminants from surface of a substrate 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B08B-007/00
  • B08B-003/12
  • B08B-006/00
  • B08B-003/00
  • B08B-005/00
  • B08B-001/02
  • B08B-007/04
출원번호 US-0759093 (2004-01-20)
우선권정보 KR-2001-16327(2001-03-28)
발명자 / 주소
  • Lee,Moon hee
  • Lee,Kun tack
  • Shim,Woo gwan
  • Chung,Jong ho
출원인 / 주소
  • Samsung Electronics Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Volentine Francos &
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 11

초록

A cleanling apparatus for removing contaminants from the surface of a substrate includes two parts: one which produces an aerosol including frozen particles and directs the aerosol onto the surface of the substrate to remove contaminants from the surface by physical force, and another part in which

대표청구항

What is claimed is: 1. A method of removing contaminants from the surface of a substrate, said method comprising: directing a fluid comprising a reactant, capable of chemically removing contaminants from, the surface of the substrate, onto the surface of the substrate, and irradiating the surface o

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Srikrishnan Kris V. (Wappingers Falls NY) Wu Jin J. (Ossining NY), Aerosol cleaning method.
  2. McDermott Wayne T. (Allentown PA) Wu Jin J. (Ossining NY) Ockovic Richard C. (Northampton PA), Apparatus to clean solid surfaces using a cryogenic aerosol.
  3. Swain Eugene A. (Webster NY) Carter Stephen R. (Tucson AZ) Hoenig Stuart A. (Tucson AZ), Carbon dioxide snow agglomeration and acceleration.
  4. Wu Jin Jwang (Ossining NY) Cavaliere William Albert (Verbank NY) Norum James Patrick (Millwood NY) Schmitz Stefan (Pleasant Valley NY), Cryogenic aerosol separator.
  5. Wang Chen-Jong,TWX ; Liang Mong-Song,TWX, Formation of self-aligned capacitor contact module in stacked cyclindrical dram cell.
  6. Kolb Alan C. (Rancho Santa Fe CA) Braverman Leonard W. (New Fairfield CT) Silberman Cyril J. (Minnetonka MN) Hamm Richard R. (San Diego CA) Cates Michael C. (Del Mar CA), Method and apparatus for removing contaminants and coatings from a substrate using pulsed radiant energy and liquid carb.
  7. Endo Shinji (Hyogo JPX) Ohmori Toshiaki (Hyogo JPX) Fukumoto Takaaki (Hyogo JPX) Namba Keisuke (Hyogo JPX), Method of treating surface of substrate with ice particles and hydrogen peroxide.
  8. Rose Peter H. ; Sferlazzo Piero, Processing a surface.
  9. Chiba Yuji (Atsugi JPX) Ando Kenji (Kawasaki JPX) Masaki Tatsuo (late of Yokohama JPX by Yoshiko Masaki ; legal successor) Sugata Masao (Yokohama JPX) Osabe Kuniji (Tama JPX) Kamiya Osamu (Machida JP, Reaction apparatus which introduces one reacting substance within a convergent-divergent nozzle.
  10. Peterson Ronald V. (Thousand Oaks CA) Krone-Schmidt Wilfried (Fullerton CA), System for precision cleaning by jet spray.
  11. Borden Michael R. ; Kosic Thomas J. ; Bowers Charles W., Wafer cleaning using a laser and carbon dioxide snow.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Miyairi, Hidekazu; Arai, Yasuyuki, Laser processing apparatus.
  2. Miyairi,Hidekazu; Arai,Yasuyuki, Laser processing apparatus.
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