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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0229153 (2005-09-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 48 인용 특허 : 10 |
A method for detecting a fault condition of a manufacturing process involving acquiring data and developing a model based on a plurality of manufacturing related variables for a plurality of outputs of a manufacturing process. The method also involves identifying which of the manufacturing related v
What is claimed is: 1. A method for detecting a fault condition of a manufacturing process, comprising: a) acquiring data associated with a plurality of manufacturing related variables for a plurality of outputs of a manufacturing process; b) developing a model based on the data for detecting fault
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