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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0647908 (2003-08-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 25 |
An improved wavefront sensor for characterizing phase distortions in incident light including optical elements that spatially sample the incident light and form a dispersed spot with a fringe pattern corresponding to samples of the incident light. An imaging device captures an image of the dispersed
What is claimed is: 1. An optical instrument employing a wavefront sensor capable of coarse and fine phase measurement capabilities during first and second modes of operation, respectively, said wavefront sensor comprising: optical elements for spatially sampling incident light and forming a disper
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