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Method for measuring the distance of an object 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/14
출원번호 US-0437469 (1999-11-10)
우선권정보 EP-99830509(1999-08-04)
발명자 / 주소
  • De Renzis,Antonio
출원인 / 주소
  • Datalogic S.p.A.
대리인 / 주소
    Nixon & Vanderhye, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 6

초록

A method for measuring the distance of an object from a measuring device is disclosed, said method comprising the following steps: a) emitting a signal; b) directing the signal towards an object; c) detecting the signal diffused by the object; d) comparing the detected signal with the emitted sig

대표청구항

What is claimed is: 1. Method for measuring the distance of an object from a measuring device, comprising the following steps: a) emitting a signal, wherein the emitted signal is a light beam adapted to illuminate the object along an emission optical path and said emitting step includes carrying ou

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Fujioka Hiroshi,JPX ; Akasu Masahira,JPX ; Tanaka Shoichi,JPX, Distance measuring apparatus and distance measuring method for a vehicle.
  2. Cluff Larry A. ; Gerber Trevor J., Incremental phase and distance measurement through digital phase signature comparison.
  3. Cameron Evan S. (Midland CAX) Szumski Ronald P. (Raleigh MI GB2) West James K. (Farmington Hills MI), Lidar scanning system.
  4. Christoph Cremer DE; Michael Hausmann DE; Joachim Bradl DE; Bernd Rinke DE, Method and devices for measuring distances between object structures.
  5. Xavier Levecq FR; Samuel Bucourt FR, Optical device for the contactless measurement of distance of a light source.
  6. Julian Michael D. (Playa Del Rey CA), Radar system and accurate method of range resolution.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Zhu, Xiaoxun; Au, Ka Man; Germaine, Gennady; Kolis, George; Good, Timothy A.; Schnee, Michael D.; Blake, Robert E.; Knowles, Carl Harry; Ghosh, Sankar; Naylor, Charles A.; Wilz, Sr., David M.; Tsikos, Constantine J.; Lodge, Francis E.; Colavito, Stephen J.; Rockstein, George B., Automated package dimensioning system.
  2. Chang, Chih-Kuang; Wu, Xin-Yuan, System and method for verifying manufacturing consistency of manufactured items.
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