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System and method for leak detection 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01M-003/04
출원번호 US-0057724 (2005-02-12)
발명자 / 주소
  • Sacca,Giuseppe
출원인 / 주소
  • Sacca,Giuseppe
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 17

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Nottingham Jon M. (Villedieu Le Chaffeau FRX) Jenny Jean-Mary (Fribourg CHX), Device for testing imperviousness of a flexible membrane mounted on a rigid support.
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  2. Landy ; Jerome J., Glove port and insert.
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  3. Cofield Dennis H. (2817 Roy Pace El Paso TX 79935), High speed leak tester.
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  4. Nysse Karel J. (Featherston NZX) Beentjes Hermanus J. (Featherston NZX) Mancer Terence A. (Carterton NZX), Inflatable product testing.
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  5. Boone George R. (Spring Valley OH) Weitz Max E. (Beavercreek OH), Leak detection system.
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  6. Balke David J. (Chicago IL) Hoffmann Jacques E. (Chicago IL), Leakage detection system.
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  7. Patchel Kenneth A. (Kennett Square PA), Leakage detector.
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  8. Fedder Stephen C. (Southfield MI), Method and apparatus for leak testing.
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  9. Witschi Friedrich (Buren an der Aare CHX), Method and apparatus for testing the tightness of housings.
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  10. Sagi, Nehemiah Hemi; Zhang, Guosen Ronald; Ghosh, Ranajit Rana; Wang, Xuguang, Method and apparatus of nondestructive testing a sealed product for leaks.
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  11. Lehmann, Martin, Method for testing containers, use of the method, and a testing device.
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  12. Lehmann Martin (Obere Farnbuhlstrasse 1 5610 Wohlen CHX), Method of and apparatus for a leakage testing.
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  13. Fenlon Christopher,GBX, Method of and apparatus for testing for leaks in a package.
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  14. Markus Nothhelfer DE; Ingo Seckel DE, Process for testing the tightness of packages.
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  15. Eisert Gerald A. (Hastings MN), Sealing device.
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  16. Eisert Gerald A. (Hastings MN), System for effecting access into sealed enclosures.
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  17. Hayes Robert L. (both of ; Honea Path SC) Gould Joseph C. (both of ; Honea Path SC), Work fixture and testing method.
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이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Cradle assembly for a pressure decay leak tester.
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  2. Zambaux, Jean-Pascal, Disposable membrane.
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  3. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Leak tester for a carrier for printhead integrated circuitry.
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  4. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Method for testing integrity of a base for printhead integrated circuitry.
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  5. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pneumatic assembly for a pressure decay tester.
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  6. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pressure tester for printhead integrated circuit carrier.
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  7. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pressure-based tester for a platform assembly.
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  8. Gengrinovich, Semion; Vilk, Ran; Balaish, Moti, Printhead leak determination.
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  9. Turk, Michael F., Remote flow rate measuring.
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  10. Fausto, Pirovano; Luigi, Nava, System and method of non-invasive control of apparatus tightness.
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  11. Doughty, Kurt J., Temperature compensation system and method.
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