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Calibration apparatus and process

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01L-025/00
  • G01C-021/00
출원번호 US-0432011 (2006-05-11)
등록번호 US-7277811 (2007-10-02)
발명자 / 주소
  • Marsh,Bobby J.
  • Nichols,Steven H.
출원인 / 주소
  • The Boeing Company
대리인 / 주소
    Wildman, Harrold, Allen & Dixon, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 14

초록

The invention discloses differing embodiments of calibration apparatus, and methods of use. In one embodiment, the calibration apparatus may be used to calibrate a tool, positioning system, robot, machine, or device. The calibration apparatus may include a first member adapted to be attached to a to

대표청구항

We claim: 1. A method for determining the spatial location and orientation of at least one of a tool, positioning system, robot, machine, and device the method comprising: providing a calibration apparatus having only two reflectors in known positions; attaching the calibration apparatus to at leas

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Schulz, Waldean A.; Faul, Ivan, Hybrid 3-D probe tracked by multiple sensors.
  2. Webber George B. (Rocky River OH), Laser linear distance measurement system and apparatus.
  3. Huang Peisen S., Laser measurement system for rapid calibration of machine tools.
  4. Thomas A. Greenwood, Machine system having optical endpoint control and associated method.
  5. Abbe, Makoto, Method and apparatus for calibrating measuring machines.
  6. Wang, Charles, Method and apparatus for measuring displacement or motion error.
  7. Coleman, Richard M.; McCrum, Russell C., Method for assessing accuracy of positioning of a multi-axis numerically controlled machine.
  8. Dey Thomas W. (Springwater NY), Method for monitoring alignment using a modified retroreflector.
  9. McMurtry, David R., Performing measurement or calibration on positioning machines.
  10. Morfino, Giuseppe, Process and system for compensating static errors on numerically controlled machine tools.
  11. Bridges Robert E. ; Brown Lawrence B. ; Ackerson D. Scott, Retroreflector for use with tooling ball.
  12. Thomas A. Greenwood, Steerable retroreflective system and method.
  13. Lau Kam C. (Gaithersburg MD) Hocken Robert J. (Barnesville MD), Three and five axis laser tracking systems.
  14. Burkert, Peter, Two-beam interferometer for Fourier spectroscopy with rigid pendulum.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Singh, Navrit Pal, Apparatuses and methods for accurate structure marking and marking-assisted structure locating.
  2. Hudlemeyer, Aaron A.; Meuret, Mark J., Laser tracker calibration system and methods.
  3. Clark, Don Michael; Cangelosi, Austin Michael; Chang, Li Chun; Errazo, Deborah E., Mandrel configuration monitoring system.
  4. Husted, Ernie, Manual thickness measurement gage.
  5. Marsh, Bobby J.; VanScotter, Kinson D.; Malen-Hogle, Karen, Splicing fuselage sections without shims.
  6. Marsh, Bobby J.; Vanscotter, Kinson D.; Bodziony, Leonard S.; Georgeson, Gary E., System and method for automated inspection of large-scale part.
  7. Seitz, Dominik; Held, Tobias; Sagemueller, Rainer; Walny, Claus-Peter, Test body for determining rotation errors of a rotating apparatus.
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