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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0050034 (2005-02-03) |
등록번호 | US-7323889 (2008-01-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 81 |
An improved voltage test system.
The invention claimed is: 1. A method of testing a device under test comprising: (a) providing a coherent beam of light from a light source having a first wavelength; (b) imposing said coherent beam of light on a test device over a spatial region within said test device greater than said first wave
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